联讯仪器取得晶圆测试设备相关专利，晶圆老化测试设备优势多，满足多要求

来源：新浪证券-红岸工作室

5月15日消息，国家知识产权局信息显示，苏州联讯仪器股份有限公司申请一项名为“一种晶圆老化测试设备及测试系统”的专利，授权公告号CN224231908U，授权公告日为2026年5月12日。申请号为CN202520819439.0，申请公布日期为2026年5月12日，申请日期为2025年4月27日，发明人马召、王勇、徐鹏嵩、杨珉沣，专利代理机构广州三环专利商标代理有限公司，专利代理师方秀琴，分类号G01R31/28、G01R1/02、G01R1/04。

专利摘要显示，本申请涉及一种晶圆老化测试设备及测试系统，包括至少一个测试机组，每个测试机组包括至少一个老化测试装置，至少一个老化测试装置沿竖直方向堆叠设置；任一老化测试装置包括测试组件、电控组件和测试信号采集机构；测试组件包括探针板组件、热沉组件和对位机构；对位机构与电控组件电性连接，以实现探针板组件与热沉组件的对位及合腔；探针板组件及热沉组件分别与测试信号采集机构电性连接，以实现相应晶圆的电性能测试。本申请晶圆老化测试设备在空间利用、测试流程优化、操作便利性以及适应特殊环境条件等方面具有显著的优势，能够满足高温高压环境下晶圆老化测试的高精度、高可靠性和高效率要求。

联讯仪器成立于2017年3月15日，于2026年4月24日在上海证券交易所上市，注册地址和办公地址均位于江苏省苏州市。该公司是国内电子测量仪器和半导体测试设备领域的重要企业，在行业内具备一定技术实力，产品和服务具有较高的市场认可度。

联讯仪器主营业务为电子测量仪器和半导体测试设备的研发、制造、销售及服务，所属申万行业为机械设备 - 通用设备 - 仪器仪表，所属概念板块有中盘均衡、大盘、26一季报预增。

2025年，联讯仪器实现营业收入11.94亿元，在63家行业公司中排名第13，高于行业平均数9.62亿元和中位数5.51亿元，但与第一名川仪股份的68.05亿元、第二名咸亨国际的45.61亿元仍有差距。主营业务构成中，半导体测试设备营收5.57亿元，占比46.66%；电子测量仪器营收5.46亿元，占比45.71%。净利润方面，2025年为1.74亿元，行业排名第9，高于行业平均数7261.28万元和中位数6753.12万元，不过与第一名川仪股份的6.52亿元、第二名柯力传感的3.91亿元相比还有提升空间。

苏州联讯仪器股份有限公司近期专利情况如下：

序号专利名称专利类型法律状态申请号申请日期公开(公告)号公开(公告)日期发明人1一种时序对齐方法、装置、介质及设备发明专利公布CN202610438320.82026-04-03CN121967941A2026-05-01彭兴贵、梁可、邵毅男、孙剑辉、祁言2时序对齐方法、装置、介质及设备发明专利公布CN202610438312.32026-04-03CN121967940A2026-05-01梁可、彭兴贵、邵毅男、赵品彰、冯亮3一种菜单侧边栏的目标控件控制方法及装置发明专利公布CN202610418457.72026-04-01CN121957442A2026-05-01胡靖民、邵毅男、廉哲、赵品彰、孙剑辉4一种基于微弱电流测量的阻抗测量装置及方法发明专利实质审查的生效、公布CN202610345880.92026-03-20CN121878283A2026-04-17邱亮、胡海洋、朱亦鸣、廉哲、潘朝松5一种阻抗测量装置及方法发明专利实质审查的生效、公布CN202610345874.32026-03-20CN121878281A2026-04-17邱亮、胡海洋、朱亦鸣、廉哲、潘朝松6一种基于微弱信号处理的阻抗测量装置及方法发明专利实质审查的生效、公布CN202610345877.72026-03-20CN121878282A2026-04-17邱亮、胡海洋、朱亦鸣、廉哲、潘朝松7一种信号均衡方法、装置及电子设备发明专利授权CN202610281681.62026-03-10CN121814517B2026-05-08汤鑫、焦健、生兆东、赵品彰、孙剑辉8一种高速线缆误码测试机发明专利公布CN202610282297.82026-03-10CN122026953A2026-05-12邓仁辉、刘严、邵毅男、廉哲9应用于误码仪的自适应均衡方法、装置、介质及设备发明专利实质审查的生效、公布CN202610268192.72026-03-06CN121792445A2026-04-03董成龙、胡靖民、赵品彰、孙剑辉10一种阻抗测量系统及阻抗测量方法发明专利公布CN202610272361.42026-03-06CN121933812A2026-04-28廉哲、潘朝松、曹勋、贺江云11一种芯片测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202610196778.72026-02-11CN121721469A2026-03-24李大伦、金鹏12校准模型建立方法、装置、设备、介质及仪表校准方法发明专利公布CN202610192131.72026-02-10CN121683297A2026-03-17王古龙、杜佳伟13一种源测量电路以及电压输出方法发明专利公布CN202610188262.82026-02-10CN121955486A2026-05-01夏少俊14一种芯片测试系统的控制方法及芯片测试系统发明专利实质审查的生效、公布CN202511652101.12025-11-12CN121454284A2026-02-03赵山、赵子闯、王飞、谢智寅15一种用于COC芯片的上下料机发明专利实质审查的生效、公布CN202511636008.12025-11-10CN121448818A2026-02-03徐兴超16一种COC芯片的测试系统及测试方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511636002.42025-11-10CN121470122A2026-02-06徐兴超17一种COC芯片的测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511636004.32025-11-10CN121493589A2026-02-10徐兴超18一种用于芯片的测试夹具及老化设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511619038.12025-11-06CN121142115A2025-12-16张爱林、郭孝明、徐鹏嵩19一种芯片定位方法、系统及芯片位置矫正装置发明专利实质审查的生效、公布CN202511584534.82025-10-31CN121120782A2025-12-12赵山、施志虎、孙成扬、戈明康20一种芯片测试设备发明专利公布CN202511584539.02025-10-31CN121142281A2025-12-16赵山、孙成扬、施志虎21一种芯片AOI检测设备和芯片测试设备发明专利公布CN202511584533.32025-10-31CN121207970A2025-12-26任鸿昌、施志虎、孙成扬22一种芯片搬运装置及芯片测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511581612.92025-10-31CN121247341A2026-01-02施志虎、文根发、孙成扬、赵山23一种芯片吸附设备、芯片测试系统及控制方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511584537.12025-10-31CN121419599A2026-01-27赵山、孙成扬、施志虎24一种半导体测试设备、光电对位方法以及测试方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511562197.22025-10-29CN121454266A2026-02-03施志虎、赵山、孙成扬25一种自适应调节的不平衡供电电路、方法及精密源表发明专利实质审查的生效、公布CN202511425995.02025-09-30CN121097615A2025-12-09王玉杰、孙旭26一种器件测试方法、装置、电子设备及存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202511306559.12025-09-12CN121143881A2025-12-16李甲福、潘朝松、林甲威、徐立27一种光模块误码率测试设备发明专利授权、实质审查的生效CN202511259617.X2025-09-04CN120811479B2025-11-18邓仁辉、邵毅男、廉哲28一种tray盘上下料装置及其控制方法和芯片测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511227197.72025-08-29CN120736214A2025-10-03孙成扬、任鸿昌29一种晶圆上下料机、芯片测试设备及其控制方法发明专利授权、公布CN202511227566.22025-08-29CN120717207B2025-10-31孙成扬30tray盘上下料机、芯片测试设备及控制方法发明专利授权、公布CN202511227514.52025-08-29CN120717206B2025-10-31孙成扬、施志虎31一种芯片测试机及芯片测试设备发明专利公布CN202511227676.92025-08-29CN120971936A2025-11-18孙成扬32芯片传输机构及其控制方法和芯片测试设备发明专利公布CN202511227646.82025-08-29CN121020133A2025-11-28孙成扬33一种芯片测试设备及测试方法发明专利公布CN202511229965.22025-08-29CN121027144A2025-11-28孙成扬34一种芯片测试系统及其控制方法发明专利CN202511227613.32025-08-29CN121171948A2025-12-19孙成扬35一种嵌入式设备的检测方法、装置及设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511162042.X2025-08-19CN121166416A2025-12-19王玲、杜佳伟36一种硅光晶圆测试方法及一种硅光晶圆测试装置发明专利实质审查的生效、公布CN202511098038.12025-08-06CN120629900A2025-09-12陆姜鹏、谢智寅、施志虎、强飞飞37一种芯片探针卡平面度调节机构及芯片测试设备发明专利公布CN202511095277.12025-08-06CN120685942A2025-09-23孙成扬、施志虎38一种旋转中心标定方法、位姿调整机构及晶圆测试装置发明专利授权CN202511098047.02025-08-06CN120593625B2025-11-18张恒、周立东、施志虎、陈伟伟39晶圆测试设备外观专利授权CN202530360984.32025-06-23CN309762341S2026-01-30余忆、丁浩40一种具有散热功能的光模块误码测试装置发明专利实质审查的生效、公布CN202510833612.72025-06-20CN120710585A2025-09-26邓仁辉、邵毅男、廉哲41一种晶圆老化测试方法发明专利实质审查的生效、公布CN202510793002.92025-06-13CN120629876A2025-09-12张爱林42芯片独立控温系统及方法发明专利实质审查的生效、公布CN202510778076.52025-06-11CN120631089A2025-09-12刘俊涛、郭世成、谢高虎、唐仁伟43芯片独立控温系统实用新型授权CN202521194063.52025-06-11CN224203624U2026-05-05刘俊涛、郭世成、谢高虎、唐仁伟44一种用于晶圆测试夹具的装拆机构发明专利实质审查的生效、公布CN202510721694.62025-05-30CN120468466A2025-08-12李帆、宋承佩、马飞45一种晶圆测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202510721707.X2025-05-30CN120559422A2025-08-29李帆、宋承佩、马飞46一种晶圆测试设备及控制方法发明专利实质审查的生效、公布CN202510721701.22025-05-30CN120600674A2025-09-05李帆、宋承佩、马飞47一种热沉和晶圆的上下料装置发明专利实质审查的生效、公布CN202510721698.42025-05-30CN120600673A2025-09-05李帆、宋承佩、马飞48晶圆老化设备外观专利授权CN202530312077.12025-05-30CN309754765S2026-01-27李帆、宋承佩、马飞、孙伟威49一种阻尼轮及输送装置实用新型授权CN202521109483.92025-05-30CN224147023U2026-04-21李帆、宋承佩、马飞50一种探针座的锁紧装置及晶圆测试设备实用新型授权CN202521108501.12025-05-30CN224163719U2026-04-24李帆、宋承佩、马飞

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