苏州联讯仪器、江苏计量院申请时序对齐法相关专利，对数据流逐周期时序对齐，保障扰动时数据恢复

来源：新浪证券-红岸工作室

5月8日消息，国家知识产权局信息显示，苏州联讯仪器股份有限公司、江苏省计量科学研究院（江苏省能源计量数据中心）申请一项名为“一种时序对齐方法、装置、介质及设备”的专利。申请公布号为CN121967941A，申请号为CN202610438320.8，申请公布日期为2026年5月1日，申请日期为2026年4月3日，发明人彭兴贵、梁可、邵毅男、孙剑辉、祁言，专利代理机构广州三环专利商标代理有限公司，专利代理师汤娟娟，分类号H04Q11/00、H04J3/16。

专利摘要显示，本申请公开一种时序对齐方法、装置、介质及设备，包括：从当前接收轮次对应的并行数据流中确定目标时钟周期对应的缓存并行数据；基于预设定界符拆分后得到的多个定界参考数据段对缓存并行数据进行移位选取，得到各定界参考数据段的多个待检索数据段；基于各定界参考数据段对各定界参考数据段的多个待检索数据段进行检索，得到各定界参考数据段的第一定界指示信息；基于各定界参考数据段的第一定界指示信息和目标时钟周期对应的裁决窗口确定缓存并行数据的第二定界指示信息；根据第二定界指示信息对缓存并行数据进行抽取得到目标时钟周期的对齐并行数据。本申请能对数据流进行逐时钟周期的时序对齐，并能在发生扰动时保障数据时序的恢复和对齐。

联讯仪器成立于2017年3月15日，于2026年4月24日在上海证券交易所上市，注册地址和办公地址均位于江苏省苏州市。该公司是国内领先的电子测量仪器及半导体测试设备供应商，具备较强的技术研发能力，产品在行业内具有较高的竞争力。

联讯仪器主营业务为电子测量仪器和半导体测试设备的研发、制造、销售及服务，所属申万行业为机械设备 - 通用设备 - 仪器仪表，所属概念板块包括半导体设备、次新股、大盘。

2025年，联讯仪器实现营业收入11.94亿元，在63家行业企业中排名第13，高于行业平均数9.62亿元和中位数5.51亿元，与第一名川仪股份的68.05亿元、第二名咸亨国际的45.61亿元有差距。其主营业务中，半导体测试设备营收5.57亿元，占比46.66%；电子测量仪器营收5.46亿元，占比45.71%。净利润方面，2025年为1.74亿元，行业排名第9，高于行业平均数7261.28万元和中位数6753.12万元，与第一名川仪股份的6.52亿元、第二名柯力传感的3.91亿元存在差距。

苏州联讯仪器股份有限公司近期专利情况如下：

序号专利名称专利类型法律状态申请号申请日期公开(公告)号公开(公告)日期发明人1一种时序对齐方法、装置、介质及设备发明专利公布CN202610438320.82026-04-03CN121967941A2026-05-01彭兴贵、梁可、邵毅男、孙剑辉、祁言2时序对齐方法、装置、介质及设备发明专利公布CN202610438312.32026-04-03CN121967940A2026-05-01梁可、彭兴贵、邵毅男、赵品彰、冯亮3一种菜单侧边栏的目标控件控制方法及装置发明专利公布CN202610418457.72026-04-01CN121957442A2026-05-01胡靖民、邵毅男、廉哲、赵品彰、孙剑辉4一种基于微弱电流测量的阻抗测量装置及方法发明专利实质审查的生效、公布CN202610345880.92026-03-20CN121878283A2026-04-17邱亮、胡海洋、朱亦鸣、廉哲、潘朝松5一种阻抗测量装置及方法发明专利实质审查的生效、公布CN202610345874.32026-03-20CN121878281A2026-04-17邱亮、胡海洋、朱亦鸣、廉哲、潘朝松6一种基于微弱信号处理的阻抗测量装置及方法发明专利实质审查的生效、公布CN202610345877.72026-03-20CN121878282A2026-04-17邱亮、胡海洋、朱亦鸣、廉哲、潘朝松7一种信号均衡方法、装置及电子设备发明专利实质审查的生效、公布CN202610281681.62026-03-10CN121814517A2026-04-07汤鑫、焦健、生兆东、赵品彰、孙剑辉8应用于误码仪的自适应均衡方法、装置、介质及设备发明专利实质审查的生效、公布CN202610268192.72026-03-06CN121792445A2026-04-03董成龙、胡靖民、赵品彰、孙剑辉9一种阻抗测量系统及阻抗测量方法发明专利公布CN202610272361.42026-03-06CN121933812A2026-04-28廉哲、潘朝松、曹勋、贺江云10一种芯片测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202610196778.72026-02-11CN121721469A2026-03-24李大伦、金鹏11校准模型建立方法、装置、设备、介质及仪表校准方法发明专利公布CN202610192131.72026-02-10CN121683297A2026-03-17王古龙、杜佳伟12一种源测量电路以及电压输出方法发明专利公布CN202610188262.82026-02-10CN121955486A2026-05-01夏少俊13一种芯片测试系统的控制方法及芯片测试系统发明专利实质审查的生效、公布CN202511652101.12025-11-12CN121454284A2026-02-03赵山、赵子闯、王飞、谢智寅14一种用于COC芯片的上下料机发明专利实质审查的生效、公布CN202511636008.12025-11-10CN121448818A2026-02-03徐兴超15一种COC芯片的测试系统及测试方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511636002.42025-11-10CN121470122A2026-02-06徐兴超16一种COC芯片的测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511636004.32025-11-10CN121493589A2026-02-10徐兴超17一种用于芯片的测试夹具及老化设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511619038.12025-11-06CN121142115A2025-12-16张爱林、郭孝明、徐鹏嵩18一种芯片定位方法、系统及芯片位置矫正装置发明专利实质审查的生效、公布CN202511584534.82025-10-31CN121120782A2025-12-12赵山、施志虎、孙成扬、戈明康19一种芯片测试设备发明专利公布CN202511584539.02025-10-31CN121142281A2025-12-16赵山、孙成扬、施志虎20一种芯片AOI检测设备和芯片测试设备发明专利公布CN202511584533.32025-10-31CN121207970A2025-12-26任鸿昌、施志虎、孙成扬21一种芯片搬运装置及芯片测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511581612.92025-10-31CN121247341A2026-01-02施志虎、文根发、孙成扬、赵山22一种芯片吸附设备、芯片测试系统及控制方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511584537.12025-10-31CN121419599A2026-01-27赵山、孙成扬、施志虎23一种半导体测试设备、光电对位方法以及测试方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511562197.22025-10-29CN121454266A2026-02-03施志虎、赵山、孙成扬24一种自适应调节的不平衡供电电路、方法及精密源表发明专利实质审查的生效、公布CN202511425995.02025-09-30CN121097615A2025-12-09王玉杰、孙旭25一种器件测试方法、装置、电子设备及存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202511306559.12025-09-12CN121143881A2025-12-16李甲福、潘朝松、林甲威、徐立26一种光模块误码率测试设备发明专利授权、实质审查的生效CN202511259617.X2025-09-04CN120811479B2025-11-18邓仁辉、邵毅男、廉哲27一种tray盘上下料装置及其控制方法和芯片测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511227197.72025-08-29CN120736214A2025-10-03孙成扬、任鸿昌28一种晶圆上下料机、芯片测试设备及其控制方法发明专利授权、公布CN202511227566.22025-08-29CN120717207B2025-10-31孙成扬29tray盘上下料机、芯片测试设备及控制方法发明专利授权、公布CN202511227514.52025-08-29CN120717206B2025-10-31孙成扬、施志虎30一种芯片测试机及芯片测试设备发明专利公布CN202511227676.92025-08-29CN120971936A2025-11-18孙成扬31芯片传输机构及其控制方法和芯片测试设备发明专利公布CN202511227646.82025-08-29CN121020133A2025-11-28孙成扬32一种芯片测试设备及测试方法发明专利公布CN202511229965.22025-08-29CN121027144A2025-11-28孙成扬33一种芯片测试系统及其控制方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511227613.32025-08-29CN121171948A2025-12-19孙成扬34一种嵌入式设备的检测方法、装置及设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511162042.X2025-08-19CN121166416A2025-12-19王玲、杜佳伟35一种硅光晶圆测试方法及一种硅光晶圆测试装置发明专利实质审查的生效、公布CN202511098038.12025-08-06CN120629900A2025-09-12陆姜鹏、谢智寅、施志虎、强飞飞36一种芯片探针卡平面度调节机构及芯片测试设备发明专利公布CN202511095277.12025-08-06CN120685942A2025-09-23孙成扬、施志虎37一种旋转中心标定方法、位姿调整机构及晶圆测试装置发明专利授权CN202511098047.02025-08-06CN120593625B2025-11-18张恒、周立东、施志虎、陈伟伟38晶圆测试设备外观专利授权CN202530360984.32025-06-23CN309762341S2026-01-30余忆、丁浩39一种具有散热功能的光模块误码测试装置发明专利实质审查的生效、公布CN202510833612.72025-06-20CN120710585A2025-09-26邓仁辉、邵毅男、廉哲40一种晶圆老化测试方法发明专利实质审查的生效、公布CN202510793002.92025-06-13CN120629876A2025-09-12张爱林41芯片独立控温系统及方法发明专利实质审查的生效、公布CN202510778076.52025-06-11CN120631089A2025-09-12刘俊涛、郭世成、谢高虎、唐仁伟42芯片独立控温系统实用新型授权CN202521194063.52025-06-11CN224203624U2026-05-05刘俊涛、郭世成、谢高虎、唐仁伟43一种用于晶圆测试夹具的装拆机构发明专利实质审查的生效、公布CN202510721694.62025-05-30CN120468466A2025-08-12李帆、宋承佩、马飞44一种晶圆测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202510721707.X2025-05-30CN120559422A2025-08-29李帆、宋承佩、马飞45一种晶圆测试设备及控制方法发明专利实质审查的生效、公布CN202510721701.22025-05-30CN120600674A2025-09-05李帆、宋承佩、马飞46一种热沉和晶圆的上下料装置发明专利实质审查的生效、公布CN202510721698.42025-05-30CN120600673A2025-09-05李帆、宋承佩、马飞47晶圆老化设备外观专利授权CN202530312077.12025-05-30CN309754765S2026-01-27李帆、宋承佩、马飞、孙伟威48一种阻尼轮及输送装置实用新型授权CN202521109483.92025-05-30CN224147023U2026-04-21李帆、宋承佩、马飞49一种探针座的锁紧装置及晶圆测试设备实用新型授权CN202521108501.12025-05-30CN224163719U2026-04-24李帆、宋承佩、马飞50一种晶圆测试设备的压接装置及晶圆测试设备实用新型授权CN202521109538.62025-05-30CN224163720U2026-04-24李帆、宋承佩、马飞

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