中安电子取得模块测试单元相关专利，模块老化测试单元提升设备刚性与定位精度

来源：新浪证券-红岸工作室

5月15日消息，国家知识产权局信息显示，杭州中安电子股份有限公司申请一项名为“一种模块老化测试单元”的专利，授权公告号CN224231896U，授权公告日为2026年5月12日。申请号为CN202520963475.4，申请公布日期为2026年5月12日，申请日期为2025年5月16日，发明人王天恩、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城，专利代理机构杭州浙言专利代理事务所（普通合伙），专利代理师李璐，分类号G01R31/26、G01R1/04、G01R1/073。

专利摘要显示，一种模块老化测试单元，涉及功率半导体模块高温测试技术领域，包括外框架组件、升降平台组件、升降驱动组件和加热模块组件，外框架组件包括外框架顶板、外框架底板以及位于两侧的外框架侧板，两块外框架侧板内侧分别设置有直线导轨，升降平台组件包括探针安装板，两侧设置有与直线导轨相配合的滑块，升降驱动组件包括上安装座、下安装座、减速机、丝杆及丝杆螺母，上安装座和下安装座分别固定于外框架顶板和外框架底板的中间位置，加热模块组件用于对功率半导体模块进行固定及加热。本实用新型通过中间驱动及周向四根导轨导向，避免了原有设备C型悬壁结构带来的不稳定性，提高了设备整体的刚性和稳定性，同时也提高了设备的重复定位精度。

天眼查数据显示，杭州中安电子股份有限公司成立日期1999年8月24日，法定代表人卜建明，所属行业为仪器仪表制造业，企业规模为小型，注册资本3374.9976万人民币，实缴资本3374.9976万人民币，注册地址为浙江省杭州市余杭区余杭街道圣地路6号2幢。杭州中安电子股份有限公司共对外投资了3家企业，参与招投标项目239次，财产线索方面有商标信息3条，专利信息75条，拥有行政许可21个。

杭州中安电子股份有限公司近期专利情况如下：

序号专利名称专利类型法律状态申请号申请日期公开(公告)号公开(公告)日期发明人1一种半导体器件的测试装置发明专利公布CN202610083692.32026-01-22CN121917934A2026-04-24卜予城、沈东、罗雪峰、何仁杰、王晨光、柴俊标、卜建明、余亮、廖剑、贺庭玉、黄珽瑮2一种无功老化的测试线路发明专利实质审查的生效、公布CN202510662985.22025-05-22CN120490643A2025-08-15柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮、卜予城3无功老化测试设备外观专利授权CN202530274528.72025-05-16CN309665871S2025-12-12卜予城、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、叶乐4晶圆老化测试设备外观专利授权CN202530274489.02025-05-16CN309744968S2026-01-23卜予城、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、叶乐5一种模块老化测试单元实用新型授权CN202520963475.42025-05-16CN224231896U2026-05-12王天恩、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城6一种能馈型DC/DC试验方法和装置发明专利实质审查的生效、实质审查的生效、公布CN202510273770.12025-03-10CN120103205A2025-06-06翁锡龙、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城7一种适用于半导体行业的模温机实用新型授权CN202520033907.12025-01-08CN223582385U2025-11-21李吉雷、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城8一种低杂感无功功率器件测试装置实用新型授权CN202520033788.X2025-01-08CN223842063U2026-01-27姜景帅、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城9一种晶圆老化测试装置发明专利实质审查的生效、公布CN202510022075.82025-01-07CN119556113A2025-03-04周玉军、左小波、林泽涛、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城10一种用于晶圆老化测试的夹具发明专利实质审查的生效、公布CN202510022272.X2025-01-07CN119689220A2025-03-25周玉军、林泽涛、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城11一种用于晶圆老化的测试台实用新型授权CN202520031456.82025-01-07CN223796648U2026-01-13左小波、周玉军、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城12一种用于加热及吸附晶圆的载台实用新型授权CN202520031031.72025-01-07CN223841959U2026-01-27周玉军、左小波、林泽涛、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城13一种晶圆老化测试装置实用新型授权CN202520030850.X2025-01-07CN223842073U2026-01-27林泽涛、李吉雷、周玉军、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城14一种用于晶圆老化测试的夹具实用新型授权CN202520031279.32025-01-07CN224066936U2026-03-31周玉军、林泽涛、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城15一种自适应温度控制方法及装置发明专利实质审查的生效、公布CN202411888717.42024-12-20CN119717957A2025-03-28胡世松、柴俊标、卜建明、卜予城16一种控制三相桥的信号生成方法发明专利实质审查的生效、实质审查的生效、公布CN202411545633.02024-11-01CN119420223A2025-02-11柴俊标、卜予城、卜建明、余亮、廖剑、贺庭玉17一种高温经时击穿试验装置实用新型授权CN202421938618.82024-08-09CN223217605U2025-08-12卜予城、王怀伟、卜建明、柴俊标、贺庭玉、廖剑、余亮18一种芯片测试设备及测试方法发明专利实质审查的生效、公布CN202410702191.X2024-06-01CN118549426A2024-08-27沈东、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城19一种芯片编带装置实用新型授权CN202421117672.62024-05-21CN222522930U2025-02-25沈东、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城20一种料盘移动装置实用新型授权CN202421125449.62024-05-21CN222646985U2025-03-21沈东、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城21一种芯片老化测试安装装置实用新型授权CN202421137759.X2024-05-21CN222719669U2025-04-04沈东、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城22一种IGBT模块无功功率的测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202410199456.92024-02-23CN118625082A2024-09-10郑昌平、柴俊标、卜建明、廖剑、余亮、卜予城23SIC模块大电流测试电路发明专利实质审查的生效、公布CN202311868677.22023-12-29CN117878826A2024-04-12郑昌平、柴俊标、卜建明、廖剑、余亮、卜予城24一种IGBT模块的测试装置实用新型授权CN202323562385.42023-12-26CN221631587U2024-08-30林曙亮、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城25一种多路NTC采集线路发明专利实质审查的生效、公布CN202311670344.92023-12-07CN117629446A2024-03-01翁锡龙、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城26一种微波控制板自动校准装置实用新型授权CN202323217083.32023-11-28CN221101310U2024-06-07黄珽瑮、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城27多应力加速试验分析方法、电子设备和可读存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202311526277.32023-11-16CN117252040B2024-02-06胡世松、黄厚超、方作宾、方小阳、陈鹏、柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮、卜予城28一种晶圆上下料机及校准方法发明专利实质审查的生效、公布CN202311471154.42023-11-06CN117607647A2024-02-27马雨雷、柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮、卜予城、胡世松29高低温试验箱外观专利授权CN202330662091.52023-10-13CN308592636S2024-04-19卜建明、周玉军、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、叶乐、卜予城、吴涓30一种用于电容器的老练试验设备实用新型授权CN202322744323.92023-10-13CN220983409U2024-05-17林泽涛、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城31一种风冷大功率电源模块的试验装置实用新型授权CN202322733461.72023-10-12CN221303534U2024-07-09翁锡龙、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城32一种K系数测试仪实用新型授权CN202322721251.62023-10-11CN221261032U2024-07-02陈承静、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城33一种带夹断功能的SiC单元及老化测试装置实用新型授权CN202322691409.X2023-10-08CN221765600U2024-09-24轩艳文、王怀伟、卜建明、贺庭玉、廖剑、柴俊标、余亮、卜予城34一种滤波器实验测试装置实用新型授权CN202322551878.12023-09-20CN221595130U2024-08-23高广奎、周玉军、柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮35一种高速ADC/DAC的测试系统及方法发明专利实质审查的生效、公布CN202311179870.52023-09-13CN117572195A2024-02-20谭玉龙、杨坦、周玉军、方小阳、柴俊标、胡世松、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮36晶圆老化测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202311069392.22023-08-24CN116774019A2023-09-19卜建明、林泽涛、林曙亮、柴俊标、胡世松、余亮、廖剑、贺庭玉、叶向宏37基于SiC功率器件的测试系统和方法发明专利实质审查的生效、公布CN202310655926.32023-06-05CN116520122A2023-08-01杜磊、柴俊标、贺庭玉、余亮、廖剑、卜建明38一种数字IC芯片的功能测试的方法和系统发明专利实质审查的生效、公布CN202310580672.32023-05-22CN116660734A2023-08-29杨坦、柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮、谭玉龙39一种微波器件的结温控制系统和方法发明专利实质审查的生效、公布CN202310525841.32023-05-08CN116520059A2023-08-01卜建明、马杨波、柴俊标、胡世松、贺庭玉、廖剑、余亮40一种GaN功率循环测试系统及方法发明专利实质审查的生效、公布CN202310387221.82023-04-06CN116679180A2023-09-01柴俊标、叶向宏、卜建明、余亮、廖剑、贺庭玉41一种高压大电流的动态老化测试系统实用新型专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权CN202320490150.X2023-03-15CN219552493U2023-08-18陈承静、卜建明、廖剑、余亮、柴俊标、贺庭玉42自动开关门试验箱外观专利专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权CN202330108226.32023-03-10CN308226995S2023-09-15周玉军、余亮、卜建明43一种裸芯级恒温密闭装置发明专利实质审查的生效、公布CN202310202567.62023-02-24CN116184170A2023-05-30柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮44基于GaN器件DHTOL试验测试方法和装置发明专利实质审查的生效、公布CN202310194884.82023-02-24CN116466204A2023-07-21陈承静、柴俊标、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮45一种双面水冷负压夹具发明专利授权CN202310059285.52023-01-18CN116298406B2025-12-12周玉军、柴俊标、贺庭玉、廖剑、余亮46一种T/R组件控温测试装置实用新型专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权CN202320132284.42023-01-16CN219552647U2023-08-18高广奎、柴俊标、余亮、贺庭玉、廖剑、卜建明47一种老化箱的多单元风道结构实用新型专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权CN202320060525.92023-01-10CN219533212U2023-08-15詹锡林、柴俊标、余亮、贺庭玉、廖剑、卜建明48基于自适应蚁群算法的任务分配方法和系统发明专利专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权、实质审查的生效、公布CN202211688249.72022-12-28CN115689252B2023-06-23胡世松、黄厚超、卜建明、贺庭玉、余亮、廖剑、柴俊标49一种多功能偏置试验方法发明专利实质审查的生效、公布CN202211513109.62022-11-30CN115684863A2023-02-03林曙亮、叶向宏、卜建明、贺庭玉、廖剑、余亮50一种TR组件的测试装置和方法发明专利实质审查的生效、公布CN202211444537.82022-11-18CN115825621A2023-03-21柴俊标、廖剑、卜建明、贺庭玉

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