北京
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国家知识产权局信息显示，卡尔蔡司有限公司申请一项名为“X射线显微镜中的闪烁体缺陷校正”的专利，公开号CN121263854A，申请日期为2024年3月。
专利摘要显示，一种基于深度学习的用于校正X射线显微镜系统中的检测器缺陷的方法和系统。对于给定的检测器收集正常几何结构投影和偏移几何结构投影，创建缺陷区域和健康区域之间的映射，并且使用这些投影训练机器学习系统。经训练的神经网络系统然后被用于校正断层投影数据集，从而改善所得重建的断层摄影图像体积集合的图像质量。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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