北京
国家知识产权局信息显示，国机传感科技有限公司;沈阳仪表科学研究院有限公司申请一项名为“一种基于双光栅LVDT位移传感器的性能测试装置”的专利，公开号CN121323456A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本申请提供一种基于双光栅LVDT位移传感器的性能测试装置，所述装置包括：支撑座；以及，设置于支撑座上的：伺服电机、联轴器、滚珠丝杆、直线导杆、滑块面板；滑块面板顶部设置有顶座；光栅滑动连接于光栅导轨；LVDT位移传感器，LVDT位移传感器与顶座相抵接；LVDT位移传感器用于获取感应电压数据；光栅用于获取第一脉冲信号以及第二脉冲信号，并基于第一脉冲信号和第二脉冲信号，确定位移数据；测试模块，测试模块被配置为：基于位移数据和感应电压数据，得到LVDT位移传感器的性能参数数据；以解决目前的LVDT位移传感器性能测试系统难以同时满足高速运动测试环境与高精度测量双重需求的问题。
天眼查资料显示，国机传感科技有限公司，成立于2020年，位于沈阳市，是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本5000万人民币。通过天眼查大数据分析，国机传感科技有限公司参与招投标项目62次，专利信息140条，此外企业还拥有行政许可4个。
沈阳仪表科学研究院有限公司，成立于2000年，位于沈阳市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本25070万人民币。通过天眼查大数据分析，沈阳仪表科学研究院有限公司共对外投资了10家企业，参与招投标项目543次，财产线索方面有商标信息4条，专利信息716条，此外企业还拥有行政许可74个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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