北京
金融界2025年4月1日消息，国家知识产权局信息显示，深圳市美浦森半导体有限公司申请一项名为“基于电子辐照的快速恢复二极管性能测试方法及系统”的专利，公开号CN 119738686 A ，申请日期为 2025 年 3 月 。
专利摘要显示，本发明涉及二极管性能测试技术领域，一种基于电子辐照的快速恢复二极管性能测试方法及系统，包括：设置偏置条件区间，获取快速恢复二极管集，获取多个实验组，依次从多个实验组中提取实验组，并对所提取的实验组执行如下操作：初始化测试电路，得到初始化电路，对初始化电路中的快速恢复二极管进行辐照并对初始化电路进行辐照监测，得到温度数据、电压数据及漏电流数据，预测快速恢复二极管的使用寿命，获取漏电流增加比例及漏电流曲线，获取可视化温度图像，获取电压曲线，获取性能实测报告，基于性能实测报告完成基于电子辐照的快速恢复二极管性能测试。本发明可提高快速恢复二极管在辐射环境下的可靠性和稳定性。
天眼查资料显示，深圳市美浦森半导体有限公司，成立于2014年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本2472.9613万人民币，实缴资本1627.704766万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市美浦森半导体有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目2次，财产线索方面有商标信息12条，专利信息69条，此外企业还拥有行政许可20个。
本文源自：金融界
作者：情报员
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