北京
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国家知识产权局信息显示，浜松光子学株式会社;安乃捷科技公司申请一项名为“用于亚表面检测的光学相干断层扫描系统”的专利，公开号CN121464316A，申请日期为2024年9月。
专利摘要显示，一种光学相干断层扫描（OCT）系统包括宽带光源和照明光学器件，将生成的宽带光投射到样品上。光在样品内部沿垂直于样品表面的方向散射，以形成样品光束；并且从样品顶面沿垂直于样品表面的方向反射，以形成参照光束。样品光束和参照光束共传播。收集光学器件收集样品光束和参照光束中的光，并将收集到的光投射到干涉合束器。干涉合束器被配置为干涉来自样品光束和参照光束的收集光，并将干涉合束光投射到光谱仪，光谱仪生成光谱干涉信息，以确定样品的相关信息。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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