北京
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天眼查APP显示，近日，浙江华仪电子股份有限公司申请的“一种基于自适应反馈的电能表芯片并行测试系统”专利公布。摘要显示，本申请公开了一种基于自适应反馈的电能表芯片并行测试系统，涉及芯片并行测试技术领域，用于解决并行测试中通道间耦合干扰导致激励偏差无法实时补偿、计量误差持续超限且异常通道无法有效隔离的问题，通过在测试启动前采集各通道端口阻抗值并生成通道阻抗基准矩阵，对激励源输出电压与各通道激励接收电压的逐通道差值进行时间衰减加权分解生成通道耦合偏差向量，基于指数加权残余反馈机制生成激励补偿系数并以衰减修正方式动态更新补偿调节量，基于计量误差收敛判断与异常持续计数实现通道隔离与循环补偿的闭环控制，提升并行测试中多通道计量精度的一致性与系统容错能力。
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