北京
国家知识产权局信息显示，拓荆键科（海宁）半导体设备有限公司申请一项名为“量测装置、键合方法、装置及存储介质”的专利，公开号CN121463754A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本发明提供了量测装置、方法、键合装置及存储介质。所述量测装置包括双色光源、光学系统、第一相机及第二相机。所述双色光源用于提供可见光和红外光。所述光学系统用于将所述双色光源提供的可见光传输到第一量测对象表面，并将所述第一量测对象表面产生的第一反射光线传输到第一相机的第一图像采集面，以及将所述双色光源提供的红外光穿透所述第一量测对象，以传输到第二量测对象表面，并将所述第二量测对象表面产生的第二反射光线传输到第二相机的第二图像采集面。所述第一相机用于采集所述第一反射光线，以生成所述第一量测对象的第一图像。所述第二相机用于采集所述第二反射光线，以生成所述第二量测对象的第二图像。
天眼查资料显示，拓荆键科（海宁）半导体设备有限公司，成立于2020年，位于嘉兴市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本1511.4245万人民币。通过天眼查大数据分析，拓荆键科（海宁）半导体设备有限公司参与招投标项目6次，财产线索方面有商标信息7条，专利信息113条，此外企业还拥有行政许可7个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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