北京
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国家知识产权局信息显示，上海微阱电子科技有限公司申请一项名为“基于波长空间的光谱测量系统及方法”的专利，公开号CN121430819A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本发明提供一种基于波长空间的光谱测量系统及方法，包括：光源模块，用于产生连续光谱的光；均光模块，用于对光源模块产生的光进行均光处理，以输出均匀光；色散模块，用于对均光模块输出的均匀光分解成按波长排列的光谱；成像模块，用于对色散模块分解得到的光谱进行成像，以形成空间波长梯度分布的光斑，并从光斑中提取光谱的位置波长信息。通过均光模块进行均光处理，保证了后续光谱的成像精度；通过色散模块将光分解为按波长排列的光谱，并通过成像模块形成空间波长梯度分布的光斑，从而得到光谱的位置波长信息，利用位置波长信息能够直观对结果进行分析，有效提高了光谱测量效率，解决了现有光谱测量方法效率低、精度差且结果不直观的问题。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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