国家知识产权局信息显示,北京智创芯源科技有限公司申请一项名为“一种探测器芯片性能测量装置和方法”的专利,公开号CN121364386A,申请日期为2025年11月。
专利摘要显示,本申请芯片性能检测领域,公开了一种探测器芯片性能测量装置和方法,装置包括:具有凹槽的测试底座,凹槽用于容纳待测试的探测器芯片和冷却介质;位于凹槽中的样品台,用于放置探测器芯片;温度测量计,用于测量探测器芯片所处的温度;参数分析仪,用于与探测器芯片连接,并在冷却介质移走后,探测器芯片所处的温度达到工作温度时采集探测器芯片的参数。本申请中利用冷却介质先降温,在冷却介质移走后,利用温度缓慢升高的方式,测量探测器芯片的参数,不需要将探测器芯片封装在杜瓦结构内测试,避免了杜瓦封装排气及耦合制冷机等繁琐的工艺过程,测试过程简单,不需要大量的人员参与测试,并且测试时间缩短,测试效率极大提升。
天眼查资料显示,北京智创芯源科技有限公司,成立于2020年,位于北京市,是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本10945.6522万人民币。通过天眼查大数据分析,北京智创芯源科技有限公司参与招投标项目14次,财产线索方面有商标信息3条,专利信息119条,此外企业还拥有行政许可3个。
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本文源自:市场资讯
作者:情报员
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