北京
国家知识产权局信息显示，北京智创芯源科技有限公司申请一项名为“一种探测器芯片性能测量装置和方法”的专利，公开号CN121364386A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本申请芯片性能检测领域，公开了一种探测器芯片性能测量装置和方法，装置包括：具有凹槽的测试底座，凹槽用于容纳待测试的探测器芯片和冷却介质；位于凹槽中的样品台，用于放置探测器芯片；温度测量计，用于测量探测器芯片所处的温度；参数分析仪，用于与探测器芯片连接，并在冷却介质移走后，探测器芯片所处的温度达到工作温度时采集探测器芯片的参数。本申请中利用冷却介质先降温，在冷却介质移走后，利用温度缓慢升高的方式，测量探测器芯片的参数，不需要将探测器芯片封装在杜瓦结构内测试，避免了杜瓦封装排气及耦合制冷机等繁琐的工艺过程，测试过程简单，不需要大量的人员参与测试，并且测试时间缩短，测试效率极大提升。
天眼查资料显示，北京智创芯源科技有限公司，成立于2020年，位于北京市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本10945.6522万人民币。通过天眼查大数据分析，北京智创芯源科技有限公司参与招投标项目14次，财产线索方面有商标信息3条，专利信息119条，此外企业还拥有行政许可3个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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