北京
国家知识产权局信息显示，上海华穗电子科技有限公司申请一项名为“一种基于热像仪的TR组件的温度测试方法、系统及装置”的专利，公开号CN121048763A，申请日期为2025年9月。
专利摘要显示，本申请提供了一种基于热像仪的TR组件的温度测试方法、系统及装置，涉及温度测试技术领域，包括对热像仪进行初始化调试；对所述热像仪进行温度校准；具体的，确定所需校准的当前测温模式；获取TR组件的测试点的参考温度值；调用所述热像仪采集所述测试点的初始温度数据，根据所述初始温度数据与测温参数，得到测试温度值；根据所述参考温度值与所述测试温度值的差值校正所述测温参数，生成最优测温参数；响应于用户触发的测温指令；查找对应的最优测温参数；调用所述热像仪对目标区域内的目标TR组件进行温度检测，基于所述最优测温参数得到测温信息，通过热像仪非接触测温，提升温度测试的准确性、可靠性及效率。
天眼查资料显示，上海华穗电子科技有限公司，成立于2013年，位于上海市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，上海华穗电子科技有限公司参与招投标项目168次，财产线索方面有商标信息18条，专利信息13条，此外企业还拥有行政许可3个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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