北京
金融界2025年5月6日消息，国家知识产权局信息显示，上海中科飞测半导体科技有限公司申请一项名为“一种光学检测系统和光学检测设备”的专利，公开号CN119915740A，申请日期为2025年4月。
专利摘要显示，本申请涉及光学检测技术领域，具体涉及一种光学检测系统和光学检测设备，由于明场照明光束的光路中设置有将明场照明光束改变为第一线偏振光的第一光学元件，暗场照明光束的光路中设置有将暗场照明光束改变为第二线偏振光的第二光学元件，第一线偏振光的偏振方向与第二线偏振光的偏振方向不同，并且第一光学元件用于抑制第一杂散光混入第一线偏振光的传输路径，第一杂散光包括第二线偏振光经反射和/或散射后到达明场照明镜组的光线；如此可在暗场检测过程中，通过第一光学元件抑制第一杂散光被明场照明镜组反射，降低第一杂散光对暗场成像的不利影响，有助于提高暗场图像的成像质量和成像效果，提高检测效率和准确性。
天眼查资料显示，上海中科飞测半导体科技有限公司，成立于2021年，位于上海市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本8000万人民币。通过天眼查大数据分析，上海中科飞测半导体科技有限公司参与招投标项目7次，专利信息13条，此外企业还拥有行政许可5个。
本文源自：金融界
作者：情报员
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