北京
国家知识产权局信息显示，优利德科技（中国）股份有限公司申请一项名为“红外图像坏点检测方法及装置”的专利，公开号CN122636517A，申请日期为2026年5月。
专利摘要显示，本申请公开一种红外图像坏点检测方法及装置。该方法包括：采集红外探测器针对黑体靶面或均匀面输出的多帧红外图像数据；对多帧图像中相同像素位置的像素值求均值，生成模板图像；根据预设中值滤波窗口对模板图像进行中值滤波，生成平滑图像；将模板图像与平滑图像逐像素差分，得到差值图像；对差值图像或其绝对残差图像进行全局统计分析，获得全局均值和全局标准差；根据全局均值和全局标准差确定坏点判定阈值，并由此确定坏点位置。本方法利用多帧均值抑制随机噪声，通过中值滤波提取残差信息，并基于全局统计特性判定异常像素，可提高亮坏点、暗坏点、闪烁坏点及簇状坏点的检测鲁棒性。
天眼查资料显示，优利德科技（中国）股份有限公司，成立于2003年，位于东莞市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本11176.7588万人民币。通过天眼查大数据分析，优利德科技（中国）股份有限公司共对外投资了10家企业，参与招投标项目544次，财产线索方面有商标信息46条，专利信息858条，此外企业还拥有行政许可172个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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