北京
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国家知识产权局信息显示，上海核工程研究设计院股份有限公司;华中科技大学申请一项名为“一种预测铝合金在中子辐照下析出相尺寸和数密度的方法”的专利，公开号CN122595628A，申请日期为2026年7月。
专利摘要显示，本申请提供了一种预测铝合金在中子辐照下析出相尺寸和数密度的方法，包括计算初级撞出原子能谱，根据初级撞出原子能谱建立级联数据库，级联数据库包括多个基体缺陷信息；计算缺陷能量性质，根据缺陷能量性质以及基体缺陷信息获得缺陷平衡浓度；根据缺陷能量性质计算溶质原子的缺陷扩散系数，根据缺陷扩散系数以及缺陷平衡浓度计算辐照增强扩散系数；计算溶质缺陷生成速率，根据生成速率以及辐照增强扩散系数获得待预测铝合金的辐照缺陷信息，辐照缺陷信息包括析出相尺寸以及析出相数密度。本申请提供的预测铝合金在中子辐照下析出相尺寸和数密度的方法能够准确计算待预测铝合金的辐照缺陷信息以便后续进行辐照性能和材料寿命分析和预测。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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