北京
国家知识产权局信息显示，江西兆驰集成科技有限公司;江西兆驰半导体有限公司申请一项名为“一种分选机合图检查方法、系统、计算机及存储介质”的专利，公开号CN121843493A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本发明提供一种分选机合图检查方法、系统、计算机及存储介质，分选机合图检查方法包括：扫描晶圆，形成合成图档，设置若干个预设验证坐标，判断合成图档的坐标数据中是否包含全部预设验证坐标；若合成图档的坐标数据中不包含全部预设验证坐标，则将坐标数据中包含的若干个预设验证坐标确立为若干个待验证坐标；根据待验证坐标识别晶粒，判断待验证坐标是否符合第一验证标准；若所述待验证坐标符合第一验证标准，则根据辅助验证坐标识别晶粒，判断待验证坐标是否符合第二验证标准；基于验证成功坐标的数量及待验证坐标的数量，计算非圆片验证成功率。通过上述方法，可有效兼容多种晶圆情况，减少合图检查误判，大幅减少人工介入。
天眼查资料显示，江西兆驰集成科技有限公司，成立于2025年，位于南昌市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，江西兆驰集成科技有限公司参与招投标项目3次，专利信息33条。
江西兆驰半导体有限公司，成立于2017年，位于南昌市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本160000万人民币。通过天眼查大数据分析，江西兆驰半导体有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目19次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息1638条，此外企业还拥有行政许可61个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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