北京
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国家知识产权局信息显示，达运精密工业股份有限公司申请一项名为“拉曼检测晶片的金属结构”的专利，公开号CN121453666A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本发明公开了一种拉曼检测晶片的金属结构，包含结构化基板、多孔层、金属层及纳米金属颗粒。结构化基板具有表面；多孔层设置于表面，多孔层具有顶面，多孔层具有六方排列的直通孔贯穿顶面而在顶面形成有开口；金属层设置于顶面上，金属层具有多个凹口，经由凹口以分别显露开口；纳米金属颗粒附着于金属层上，且纳米金属颗粒遮蔽凹口的至少一部分，其中直通孔的孔径及纳米金属颗粒的粒径的尺寸差介于‑10纳米及+10纳米之间。经由凹口，纳米金属颗粒可均匀地附着于金属层上，让金属结构表面均匀布满纳米金属颗粒，进而增强拉曼信号。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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