北京
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国家知识产权局信息显示，基斯特勒控股公司申请一项名为“光学感测方法和用于光学感测方法的光学传感器系统”的专利，公开号CN121453118A，申请日期为2025年7月。
专利摘要显示，本发明涉及一种光学传感器系统(100)，适于使用光纤段干涉测量的感测方法，其中，具有大于光纤73.i的热光系数的感测元件1.i被布置在光纤73的远端处。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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