北京
国家知识产权局信息显示，无锡财盈半导体有限公司申请一项名为“一种基于辉光光斑特性的等离子体发生器解离率检测方法、检测系统”的专利，公开号CN121364180A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本申请实施例涉及检测，公开了一种基于辉光光斑特性的等离子体发生器解离率检测方法，包括：获取标准样机的等离子体启辉过程中产生的样机光斑数据；响应待测等离子体发生器的开启信号，获取其等离子体启辉过程中产生的光信号，基于光信号生成待测机光斑数据；比对待测机光斑数据和样机光斑数据，根据比对结果判定待测等离子体发生器合格或异常。本申请还公开了一种检测系统。通过获取标准样机与待测机的光斑数据并进行比对实现等离子体发生器解离率检测，摆脱了对电信号采集的依赖；传统电信号检测易受高频干扰导致数据失真，而基于辉光光斑特性分析，从源头避免了电气干扰问题，实现了电气隔离，提升了检测过程的稳定性和安全性。
天眼查资料显示，无锡财盈半导体有限公司，成立于2025年，位于无锡市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析，无锡财盈半导体有限公司专利信息1条。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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