北京
国家知识产权局信息显示，深圳市和鑫晟科技有限公司申请一项名为“一种手机壳外观瑕疵检测装置”的专利，公开号CN121347525A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本发明涉及手机壳外观检测装置的技术领域，尤其涉及一种手机壳外观瑕疵检测装置。包括有：壳体；控制器，安装于壳体的侧面；输送组件，安装于壳体上；固定筒，连接于壳体上；第一摄像模组，安装于固定筒的内部；第一方管，对称连接于固定筒的底部，且第一方管位于壳体的内部；反射镜，对称安装于第一方管的内部；连接板，连接于第一方管的上端之间并保持连通。本发明通过第一摄像模组、第一方管、反射镜、第二方管和凸透镜的配合，利用反射镜的倾斜成像原理，使第一摄像模组能够同时捕捉手机壳上表面及前后左右四个侧面的图像，仅需单一摄像模组即可实现多角度全面检测，显著降低传统多摄像模组布局的硬件成本和系统复杂性，同时提高检测效率。
天眼查资料显示，深圳市和鑫晟科技有限公司，成立于2011年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市和鑫晟科技有限公司参与招投标项目1次，财产线索方面有商标信息3条，专利信息66条，此外企业还拥有行政许可4个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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