北京
国家知识产权局信息显示，深圳市辰卓科技股份有限公司申请一项名为“一种CIS的POD检测方法、装置及ATE设备”的专利，公开号CN121329880A，申请日期为2025年9月。
专利摘要显示，本申请适用于半导体芯片测试技术领域，提供了一种CIS的POD检测方法、装置及ATE设备，方法包括获取待检测图像，待检测图像由CIS采集，且亮度特征符合中心对称条件；执行坏点检测步骤，坏点检测步骤包括：在待检测图像中，以图像中心为基准，确定当前检测像素点的多个参考卷积核区域，参考卷积核区域与当前卷积核区域到图像中心的距离相同，当前卷积核区域基于当前检测像素点确定；将当前检测像素点的亮度值与当前卷积核区域、多个参考卷积核区域分别进行比较，确定多个比较结果；基于多个比较结果，确定当前检测像素点的坏点判定结果。上述方法可以解决传统算法中无法识别大面积簇内的部分坏点导致坏点识别准确性不足的问题。
天眼查资料显示，深圳市辰卓科技股份有限公司，成立于2013年，位于深圳市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本3327.9492万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市辰卓科技股份有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目4次，财产线索方面有商标信息19条，专利信息155条，此外企业还拥有行政许可10个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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