北京
国家知识产权局信息显示，东莞市东一思创电子有限公司申请一项名为“芯片散热器缺陷检测方法、装置、设备及存储介质”的专利，公开号CN121324362A，申请日期为2025年10月。
专利摘要显示，本发明涉及芯片散热器缺陷检测技术领域，公开了一种芯片散热器缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，通过接收包含缺陷检测时段和检测批次信息的芯片散热器检测任务，查询匹配的图像传感器组和边缘计算设备，根据待检测批次的类型特征与缺陷检测要求，形成检测需求信息，结合边缘计算设备的负荷上限与传感器组批次映射关系，求解出检测策略并以此指导执行图像采集、传输与分析动作。由此，本发明通过构建基于边缘计算体系的芯片散热器缺陷检测系统，依赖图像传感器组与边缘计算设备之间临时通信链路的建立，灵活分配调度检测图像采集资源与检测数据分析资源，动态适应不同批次散热器的检测需求，解决检测间隔不均、资源分配不合理问题。
天眼查资料显示，东莞市东一思创电子有限公司，成立于2021年，位于东莞市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本5000万人民币。通过天眼查大数据分析，东莞市东一思创电子有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目5次，专利信息17条，此外企业还拥有行政许可4个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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