上海华岭申请负载板装置相关专利，可调节间距，用于存放转运多型号负载板

来源：新浪证券-红岸工作室

12月30日消息，国家知识产权局信息显示，上海华岭集成电路技术股份有限公司申请一项名为“负载板的存放转运装置”的专利。申请公布号为CN121225126A，申请号为CN202511620038.3，申请公布日期为2025年12月30日，申请日期为2025年11月6日，发明人顾良波、武君伟、崔孝叶，专利代理机构北京瑞诚智联知识产权代理事务所（普通合伙），专利代理师方丁一，分类号B65D25/10、B65D25/24、B65D85/86、B62B3/04、B62B5/06。

专利摘要显示，一种负载板的存放转运装置，配置为存放转运多种不同型号的负载板，所述存放转运装置包括：存放转运装置本体，具有容置凹槽；以及第一对限位框和第二对限位框，位于所述容置凹槽中且在第一方向上相对设置，第一对限位框和第二对限位框之间的距离可调节，第一对限位框包括第一限位框和第二限位框，所述第一限位框和第二限位框在垂直于第一方向的第二方向上间隔设置，配置为夹持所述负载板的第一侧边区域；第二对限位框包括第三限位框和第四限位框，所述三限位框和第四限位框在垂直于第一方向的第二方向上间隔设置，配置为夹持所述负载板的第二侧边区域，所述负载板的第一侧边区域与第二侧边区域相对设置。

华岭股份成立于2001年4月28日，于2022年10月28日在北京证券交易所上市，注册地和办公地均位于上海。它是国内领先的集成电路测试企业，具备全产业链测试服务能力，为行业提供一站式测试解决方案。

华岭股份主营业务涵盖晶圆测试、IC成品测试、测试验证分析等，还包括测试技术研究、程序开发以及自有设备租赁。公司所属申万行业为电子 - 半导体 - 集成电路封测，涉及中芯国际概念、融资融券、小盘等概念板块。

在2025年三季度，华岭股份实现营业收入2.31亿元，在行业13家公司中排名第13，远低于第一名长电科技的286.69亿元和第二名通富微电的201.16亿元，行业平均数为54.9亿元，中位数为10.83亿元。净利润为 - 2867.27万元，行业排名12/13，与第一名通富微电的9.94亿元和第二名长电科技的9.51亿元差距明显，行业平均数为2.5亿元，中位数为1.24亿元。

上海华岭集成电路技术股份有限公司近期专利情况如下：

序号专利名称专利类型法律状态申请号申请日期公开(公告)号公开(公告)日期发明人1负载板的存放转运装置发明专利公布CN202511620038.32025-11-06CN121225126A2025-12-30顾良波、武君伟、崔孝叶2基于主动泄放与分段控制的电流测试放电方法及系统发明专利授权CN202511429772.12025-10-09CN120915112B2025-12-26杨自洪、佘海霞、吴钇红3一种基于ATE的毫米波芯片幅相测量装置及方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511086526.02025-08-05CN120602011A2025-09-05刘龙超、周军、李小媛4一种基于分段扫描的多频段滤波器S参数测试方法及系统发明专利授权、公布CN202511062119.62025-07-31CN120559330B2025-11-04刘龙超、周军、李小媛5测试数据的压缩方法、压缩装置、计算机可读存储介质及电子设备发明专利实质审查的生效、公布CN202510562110.52025-04-30CN120474558A2025-08-12王华、顾辉、杨自洪6芯片输出电平测试方法、系统、设备、介质及程序产品发明专利实质审查的生效、公布CN202510150239.52025-02-11CN119936626A2025-05-06杨自洪、许启康、苟文强7用于芯片测试的可调节转运系统发明专利实质审查的生效、公布CN202510151414.22025-02-11CN119993887A2025-05-13顾良波、严高建、武君伟8基于自动测试机寻找触发点的方法发明专利实质审查的生效、公布CN202510070512.32025-01-16CN119881594A2025-04-25吴钇红、姬翔、杨自洪9芯片分选机分bin扩展装置、芯片分选系统及芯片分选方法发明专利实质审查的生效、公布CN202411883940.X2024-12-19CN119694946A2025-03-25武君伟、顾良波、严高建10封装芯片清洁测试系统及方法发明专利实质审查的生效、公布CN202411817984.22024-12-11CN119667439A2025-03-21岳小兵、耿超辉、姚世伟11基于遗传算法的测试稳定性提升方法及系统发明专利授权、公布CN202410501266.82024-04-25CN118068168B2024-06-28余琨、王玉龙12一种对芯片进行测试的方法和装置发明专利实质审查的生效、公布CN202410455427.42024-04-16CN118349449A2024-07-16熊忠应、王玉龙、季海英、郭云13晶圆测试方法发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202410303440.82024-03-18CN117890771B2024-05-31余琨、王华、严高建、郭云14批量芯片测试方法、装置及电子设备发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202410303433.82024-03-18CN117907809B2024-06-28余琨、王玉龙、祁建华、程茗姝15一种新型的设备智能预测性维护方法发明专利实质审查的生效、公布CN202410172099.72024-02-07CN117974110A2024-05-03傅秀菲、郭云、赵多智、程茗姝16一种新型的并行测试系统与方法发明专利实质审查的生效、公布CN202410172570.22024-02-07CN118068170A2024-05-24傅秀菲、鲍小燕、朱倩、昃妤婷17一种自带存放位置的芯片测试装置发明专利实质审查的生效、公布CN202410142708.42024-02-01CN117849590A2024-04-09顾良波、祁建华、余琨、陈俊烨18探针卡以及芯片测试系统发明专利实质审查的生效、公布CN202410146327.32024-02-01CN117990962A2024-05-07李文敬、祁建华、余琨、沈逸杰19多站点晶圆测试方法发明专利实质审查的生效、公布CN202311814690.X2023-12-26CN117727650A2024-03-19侯义平、邵嘉阳、许焱林、刘幻20ATE测试方法、ATE测试系统、电子设备及存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202311391649.62023-10-25CN117406063A2024-01-16杨自洪、余琨、王华、顾良波、严高建21一种电路板检测系统及方法发明专利实质审查的生效、公布CN202310441946.02023-04-23CN116593496A2023-08-15傅秀菲、鲍小燕22固定装置发明专利实质审查的生效、实质审查的生效、公布CN202310317019.82023-03-28CN116298805A2023-06-23熊忠应、徐春、祁建华、叶建明23一种基于关系模型的成品芯片测试硬件管理方法发明专利实质审查的生效、公布CN202310053876.12023-02-03CN116185732A2023-05-30昃妤婷、王玉龙、熊忠应、赵多智24一种带光源的ATECIS测试夹具及其测试方法发明专利实质审查的生效、实质审查的生效、公布CN202310053770.12023-02-03CN116298776A2023-06-23周超、王华、唐靖翔25一种生成对于存储器进行测试的测试向量的方法发明专利实质审查的生效、公布CN202310062875.32023-01-18CN116110491A2023-05-12李文敬、顾辉、唐靖翔26芯片测试装置及测试方法发明专利实质审查的生效、公布CN202310065093.52023-01-13CN115902593A2023-04-04朱倩、鲍小燕、周俊、傅秀菲27一种CIS芯片测试系统发明专利实质审查的生效、公布CN202211596873.42022-12-12CN116008776A2023-04-25杨自洪、周超、侯义平28一种用于集成电路晶圆测试的转接组件发明专利实质审查的生效、公布CN202211558739.52022-12-06CN115902586A2023-04-04王华、李文敬、罗斌、顾良波29一种针卡保护盖自动化操作装置、探针台及晶圆检测装置发明专利授权CN202211512395.42022-11-29CN115728529B2025-11-28顾良波、李文敬、杨自洪30一种芯片的追踪方法和装置发明专利授权、公布CN202211436559.X2022-11-16CN115858271B2025-07-22王玉龙、鲍小燕、熊忠应、赵多智31一种用于印刷电路板的夹具发明专利实质审查的生效、公布CN202211413918.X2022-11-11CN116008601A2023-04-25张寅、张杰32电容测量装置及电容测量方法发明专利授权、公布CN202210485515.X2022-05-06CN114879009B2025-09-09余琨、王华33基于自动测试设备的测试方法及系统发明专利实质审查的生效、公布CN202210305719.02022-03-23CN114646864A2022-06-21王华、吴一、李文敬34晶圆的测试方法、装置及计算机可读存储介质发明专利授权CN202210283836.12022-03-21CN114678288B2025-11-28王玉龙、鲍小燕、熊忠应35半导体器件的测试方法发明专利授权CN202210204743.52022-03-03CN114582748B2025-11-28邵嘉阳、凌俭波、王华、王辉36一种探针台磨针设置的方法发明专利实质审查的生效、公布CN202210187538.22022-02-28CN114551269A2022-05-27熊忠应、祁建华37晶圆上器件的测试方法发明专利实质审查的生效、公布CN202210190798.52022-02-28CN114551270A2022-05-27吴一、余琨38一种基于ATEtrim分卡测试存储数据的优化方案发明专利实质审查的生效、公布CN202210188367.52022-02-28CN114974385A2022-08-30周超、王华39一种芯片测试结果的可靠的数据传输验证方法发明专利授权、公布CN202210188380.02022-02-28CN114625711B2025-10-10侯义平、邵嘉阳40芯片高低温测试装置发明专利实质审查的生效、公布CN202210179417.32022-02-25CN114545126A2022-05-27刘善浩、王玉龙、顾良波、罗斌41获取测试针压的方法、装置、介质和电子设备发明专利实质审查的生效、公布CN202210101499.X2022-01-27CN114496830A2022-05-13陈清云、岳小兵、张杰、蒋志华42芯片最终测试系统发明专利实质审查的生效、公布CN202210101501.32022-01-27CN114518523A2022-05-20朱倩、王玉龙、吴勇佳、周官宏43一种半导体测试通信方法、装置及系统发明专利实质审查的生效、公布CN202210056830.02022-01-18CN114398215A2022-04-26张杰、邵嘉阳、侯义平、凌俭波44获取探针卡上测试针位置分布方法、装置、介质和电子设备发明专利实质审查的生效、公布CN202210049197.22022-01-17CN114252666A2022-03-29傅秀菲、牛勇、朱倩、范文萱45探针板卡、探针测试系统以及探针测试方法发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN202210049198.72022-01-17CN114384287A2022-04-22李文敬、余琨、吴一、徐倩云46射频开关电路的测试电路发明专利实质审查的生效、公布CN202210050362.62022-01-17CN114414990A2022-04-29薛来熙、祁建华、李吉宝、王华47可拆卸的拼接电路板发明专利实质审查的生效、公布CN202210010735.72022-01-05CN114340152A2022-04-12张寅、张杰、叶守银、王琪48探针测试机台及测试系统、更换探针板卡的方法发明专利授权、公布CN202210009562.72022-01-05CN114325006B2025-02-25顾良波、张志勇、鲍小燕、周官宏49N位模数转换器的检测方法发明专利授权、公布CN202111560845.22021-12-20CN114285412B2025-07-11余琨、刘远华、王华、凌俭波、牛勇50一种芯片筛选测试的方法发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN202111523044.92021-12-13CN114264930A2022-04-01崔孝叶、季海英、王锦、侯义平

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