Optris微观测温技术破解电子制造看不见的温度挑战

（来源：六安新闻网）

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随着电子产品向小型化、集成化方向发展，电子元件的尺寸越来越小，散热问题也变得愈发严峻。传统接触式测温方法在面对微型元件时往往力不从心，而红外热像仪凭借非接触测量的独特优势，正在成为电子制造领域温度监测的关键技术。

微型元件的散热监测挑战

一家电子测试设备制造商在产品可靠性测试中发现，核心分析仪频繁出现故障，工程师怀疑是机箱内印刷电路板（PCB）上的元件过热导致的。对电路板上的所有电子元件进行全面温度研究至关重要，但使用接触式温度计测量关键元件存在明显问题。

使用热电偶对非常小的表面贴装设备（SMD）进行温度测量时，难以准确反映真实温度。小型PCB元件的热质量非常小，而热电偶具有足够的热容量来影响测试时元件的温度。热电偶及其接线会将热量从电子元件中吸走，导致温度读数偏低，造成不准确的热动力学读数。

因此，在设备底盘内进行温度测量时，必须采用非侵入式方法。由于设备外壳可能造成视线障碍，远程温度测量极具挑战性。

红外技术优化电子外壳的温度测量

电子元件的热成像检查是既定的故障检测和质量管理测试程序，可以检测印刷电路板、集成电路表面上的热点和异常温度分布等各种问题。

在此应用中，红外热像仪与红外透射材料配合使用，准确评估所有关键电路板组件的温度。该项目测试了几种红外透射材料，保鲜膜虽然透射性好，但耐用性存在问题。氯化钙红外窗口成为最佳解决方案，虽然红外传输率略低，但在该测量中完全可以接受。红外窗口的金属外壳易于安装，且价格低廉，可以使用多个窗口收集所有关键组件的数据。

热像仪测量优于接触式热电偶

Optris Xi 400体积小巧，易于安装在设备底盘上方和下方的导轨系统上，角度可优化重要组件的视线。PIX Connect软件可以轻松设置点或小区域来测量温度变化，不受可跟踪组件数量的限制。时间与温度数据易于收集并存储在CSV文件中，软件中的"热点"工具可识别电路板上最热的位置。

PIX Connect中的透射率设置可以通过比对有无窗口时的目标温度，调整传输系数直到温度匹配。测试证明，接触式热电偶会通过热传导降低设备温度，使红外热像仪的测量结果比热电偶更加准确。

Optris红外热像仪凭借其微观精度和非接触测量优势，为电子制造行业提供了可靠的温度监测解决方案，确保产品质量和可靠性。（凤凰新闻）

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