北京
国家知识产权局信息显示，深圳市数合泰科技有限公司申请一项名为“非易失存储芯片宽温测试方法和系统”的专利，公开号CN121862185A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本发明涉及芯片测试技术领域，提供一种非易失存储芯片宽温测试方法和系统，方法包括：首先选取被测非易失存储芯片的特征存储单元，然后在常温下执行编程/擦除循环后按照温度变化函数改变非易失存储芯片的工作环境温度，并依据温度生成相应的测试图形，执行读取‑擦除‑编程操作采集不同温度下被测芯片参数，最后依据参数变化判断被测非易失存储芯片宽温的应用能力。本发明提供的非易失存储芯片宽温测试方法和系统，提出了基于工艺差异的抽样优化方法和温度变化感知的测试图形生成方法来缩短大容量闪存芯片的测试时间，提高了宽温环境下的失效发现率，减少测试时间和成本的同时准确判断芯片的宽温应用能力。
天眼查资料显示，深圳市数合泰科技有限公司，成立于2016年，位于深圳市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市数合泰科技有限公司参与招投标项目1次，财产线索方面有商标信息3条，专利信息16条，此外企业还拥有行政许可3个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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