北京
国家知识产权局信息显示，上海市计量测试技术研究院有限公司申请一项名为“一种基于单染料标记与亚细胞器共定位检测DNA纳米结构状态的方法”的专利，公开号CN121633036A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本发明涉及一种基于单染料标记与亚细胞器共定位检测DNA纳米结构状态的方法，所述检测方法包括将连接染料的DNA纳米结构与细胞进行孵育，检测染料与细胞器的共定位系数；当染料与溶酶体的共定位系数＞0.5，则判断DNA纳米结构完整；当染料与线粒体的共定位系数＞0.5，则判断DNA纳米结构损坏；其余情况则判断DNA纳米结构部分完整。本发明通过基于单染料与亚细胞器共定位判断DNA纳米结构命运、检测DNA纳米结构完整性方法，不但可以利用DNA纳米结构在细胞内亚细胞器的位置区分同种DNA纳米结构不同条件下的完整或破坏状态，还能检测不同DNA纳米结构的细胞内状态。
天眼查资料显示，上海市计量测试技术研究院有限公司，成立于2025年，位于上海市，是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本338000万人民币。通过天眼查大数据分析，上海市计量测试技术研究院有限公司参与招投标项目78次，专利信息347条，此外企业还拥有行政许可20个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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