北京
国家知识产权局信息显示，武汉中导光电设备有限公司申请一项名为“探针缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质”的专利，公开号CN121414740A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，一种探针缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质，探针缺陷检测方法包括：获取待检测图像，所述待检测图像中至少包括一个探针组；使用预设图像和待检测图像进行匹配，从待检测图像中提取得到每个探针组的图像区域，所述预设图像为一个探针组的标准图像；针对每个探针组的图像区域，使用连通域非极大值抑制算法对图像区域进行检测得到每个检测框；针对每个检测框，将面积小于预设标准面积且大于预设缺陷面积的检测框检测为缺陷；计算并输出每个缺陷的几何特征、灰度特征及强度特征。通过本申请，针对每个探针组，单独使用连通域非极大值抑制算法，更为适合图像中每个探针组形态各异的情形，相比于现有检测算法检测结果更为准确。
天眼查资料显示，武汉中导光电设备有限公司，成立于2013年，位于武汉市，是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本10000万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉中导光电设备有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目5次，专利信息75条，此外企业还拥有行政许可3个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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