北京
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国家知识产权局信息显示，日扬科技股份有限公司取得一项名为“超声波扫瞄显微镜装置”的专利，授权公告号CN223742397U，申请日期为2024年11月。
专利摘要显示，本实用新型涉及一种超声波扫瞄显微镜(Scanning Acoustic Microscope，SAM)装置包含载台、超声波扫瞄显微镜以及至少一隔离组件。载台用以承载至少一待测物。隔离组件用以使得待测物与检测液之间呈现隔离状态。其中超声波扫瞄显微镜经由检测探头提供超声波穿透过检测液及贴附于待测物上之隔离组件，借以对载台上之待测物进行超声波扫瞄检测程序。本实用新型借由对硬件的改进以克服现有技术由硬件所导致的问题。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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