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EL 仪定位 12 项常见缺陷,覆盖电子元件生产与运维中的核心问题:不仅能清晰识别裂纹、隐裂、断栅等影响电流传输的结构性缺陷,还能捕捉工艺污染(如组件生产中的油污、杂质)、破片、虚焊、低效片等细微问题,避免因缺陷遗漏导致的产品性能衰减。检测结果以图像形式直观显示在平板电脑上,缺陷区域会以高亮或不同颜色标注,无需专业分析即可快速判断,彻底告别 “人工判读模糊、耗时” 的难题,省时又省力。
高清成像,缺陷无所遁形:搭载 2476 万级高清红外相机,EL 画质清晰度远超传统设备,;搭配全时自动对焦模块,无需手动调整焦距,成像精度更高,确保每一处缺陷都能被精准捕捉,避免因画质模糊导致的误判、漏判。
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