北京
金融界 2025 年 5 月 19 日消息，国家知识产权局信息显示，合肥聚跃检测技术有限公司申请一项名为“一种芯片冷热冲击测试装置及其测试方法”的专利，公开号 CN119986334A ，申请日期为 2025 年 4 月。
专利摘要显示，本发明公开了一种芯片冷热冲击测试装置及其测试方法，涉及芯片性能检测技术领域，解决了现有技术中因芯片被夹具部分覆盖，导致芯片无法全面均匀地进行冷热冲击，以及对芯片进行批量测试时各个芯片处的温度不易保持一致，从而影响测试效果的技术问题；包括用于提供冷热温度的测试筒，测试筒内设置有移动件，移动件上设有用于对芯片本体进行动态夹持的夹紧机构；夹紧机构包括安装座、第一夹持机构、第二夹持机构和联动机构，多个安装座均匀分布在移动件上。本发明不仅方便对芯片进行动态夹持，使得芯片能够全面均匀地进行冷热冲击测试，而且使得芯片在进行批量测试时各个芯片处的温度不会出现较大温差，从而有利于提高测试效果。
天眼查资料显示，合肥聚跃检测技术有限公司，成立于2017年，位于合肥市，是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，合肥聚跃检测技术有限公司参与招投标项目3次，专利信息13条，此外企业还拥有行政许可2个。
本文源自：金融界
作者：情报员
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