XPS是一种针对无机材料的强大分析手段,能对无机材料进行元素种类、价态分析,以及样品结合、功函数等参数的测定。XPS测试原理来自于光电效应。
说起光电效应,爱因斯坦因为相对论闻名于世,而爱因斯坦获得诺贝尔奖的发现却是解释了光电效应的现象。(PS:因为所有诺奖都需要实证,而相对论在那时太超前)。
光 电 效 应
光电效应简单说就是用高能的电磁波照射样品之后,样品内部的一些电子吸收了该部分能量后会使得电子溢出,形成电流,即所谓的光生电。
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XPS就利用了该现象,更详细的研究表明,这些溢出的电子能量是有规律的,它们与被照射物质的电子结合能有关系。
因此,分析这部分溢出的电子就能间接的分析原子物质内部的构成信息。
XPS 测 试 原 理
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当我们使用相同能量的X射线(一般是1486eV)照射样品时,因样品内部元素的结合能不一样,发生光电效应之后所溢出的光电子能量也就不一样。我们通过测算溢出的光电子能量,就能得到对应的元素的电子结合能,最终得到如下谱图:
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X轴为结合能,Y轴为信号强度。
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