北京
国家知识产权局信息显示，广州普川检测技术有限公司申请一项名为“一种纳米材料样本检测粒度统计方法”的专利，公开号CN122657055A，申请日期为2026年6月。
专利摘要显示，本发明适用于纳米材料样本检测技术领域，提供了一种纳米材料样本检测粒度统计方法。本发明通过选择多个材料检测区域；进行粒度检测；划分多个测试区域和多个验证区域，划分多个测试数据和多个验证数据；进行反距离自校准；在验证通过时，反距离插值计算多个其他区域的其他检测数据，生成粒度统计数据。能够选择多个材料检测区域进行粒度检测，划分多个测试区域和多个验证区域，进行反距离自校准，在误差比较验证通过后，反距离插值计算多个其他检测数据，进而统计生成粒度统计数据，确保粒度统计数据能够全面反映真实的空间分布，避免统计结果与实际情况之间存在较大偏差，为纳米材料的质量评估与性能分析提供准确的数据支撑。
天眼查资料显示，广州普川检测技术有限公司，成立于2012年，位于广州市，是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析，广州普川检测技术有限公司参与招投标项目14次，专利信息29条，此外企业还拥有行政许可8个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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