国家知识产权局信息显示,雅赫测试系统公司申请一项名为“微电子电路测试包、测试装置以及测试由基板保持的微电子电路的方法”的专利,公开号CN122591994A,申请日期为2021年10月。
专利摘要显示,本申请公开了微电子电路测试包、测试装置以及测试由基板保持的微电子电路的方法。微电子电路测试包包括:可移动支撑结构;多个触头;压差腔密封件;第一通道;阀;第一接口;以及固定系统,固定系统包括第一固定组件,第一固定组件具有:第一部,第一部与第一部件接合;第二部,第二部与第二部件接合;以及连接部,连接部的相对的端部分别固定到第一部和第二部,以形成将可移动支撑结构的第一部件和第二部件彼此固定的锁定装置。
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本文源自:市场资讯
作者:情报员
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