北京
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国家知识产权局信息显示，深圳市晟鑫弘科技有限公司申请一项名为“一种集成电路的测试装置”的专利，公开号CN122487709A，申请日期为2026年5月。
专利摘要显示，本发明公开了一种集成电路的测试装置，涉及集成电路测试相关技术领域，包括主机以及基座，还包括限位机构、多个支撑杆、导气腔以及固定机构，限位机构安装于主机上，多个支撑杆安装于基座上端，支撑杆包括活动杆，导气腔设置于基座内部并与各活动杆驱动端连通，基座设有用于向导气腔内通入压力气体的接口以驱动所有活动杆同步伸出，固定机构安装于基座上并用于在活动杆伸出后选择性地锁止各活动杆的位置，解决了现有的集成电路的测试装置因采用刚性支撑台作为支撑结构，导致无法适应集成电路板下表面的不平整结构，容易使集成电路板产生局部应力集中、弯曲或内部损伤，且支撑力无法根据下表面凹凸情况自动调节，导致测试过程中受力不均的问题。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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