北京
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国家知识产权局信息显示，深圳市大为创芯微电子科技有限公司取得一项名为“一种存储芯片外观检测装置”的专利，授权公告号CN224581407U，申请日期为2025年4月。
专利摘要显示，本实用新型属于芯片检测技术领域，且公开了一种存储芯片外观检测装置，包括检测箱和安装在检测箱底部的第一伺服电机，所述第一伺服电机的输出端贯穿检测箱的底部并连接有支撑盘，所述检测箱的顶部中心螺接有调节杆，且调节杆顶部连接有握持件，所述调节杆的底部通过轴承安装有调节架，所述调节架的顶部一侧连接有导向柱，且导向柱活动插接在检测箱的对应侧，所述调节架的一侧外壁安装有第二伺服电机，且第二伺服电机的输出端贯穿调节架的对应侧并连接有检测存储芯片外观的摄像头。通过上述方案，解决了存储芯片在装置内部进行检测时不能根据需要精准地对其任意区域进行检测，检测效果不精确的问题。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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