联讯仪器取得芯片测试校准系统相关专利，该系统可高效校准芯片测试头电信号偏差

来源：新浪证券-红岸工作室

7月15日消息，国家知识产权局信息显示，苏州联讯仪器股份有限公司申请一项名为“一种用于芯片测试的校准系统”的专利，授权公告号CN116466286B，授权公告日为2026年7月14日。申请公布号为CN116466286A，申请号为CN202310472020.8，申请公布日期为2026年7月14日，申请日期为2023年2月9日，发明人廉哲、罗跃浩、黄建军、胡海洋，专利代理机构北京智汇东方知识产权代理事务所（普通合伙），专利代理师赵云秀，分类号G01R35/00。

专利摘要显示，本发明提供了一种用于芯片测试的校准系统，属于芯片测试头校准技术领域。该系统包括：固定装置，形成有沿同一预设圆周依次布置多个卡接部，每一卡接部用于固定一个芯片测试头；转接测试机构，包括转接臂，转接臂配置成可绕预设圆周的圆心旋转，转接臂设置有连接线，连接线的一端在转接臂转动时依次与各个芯片测试头的输出探针对接；电压表，用于在芯片测试头接收到测试信号时检测芯片测试头的输出探针处的第一电信号；校准源表，与连接线相连，用于接收芯片测试头接收到测试信号时通过连接线传输来的第二电信号，并根据第一电信号和第二电信号得出电信号补偿值。本发明的系统连接简单、无多余零器件且连接线机构占用体积小。

国内领先的高端电子与半导体测试设备供应商，主营核心产品兼具技术壁垒，2017年3月15日注册于江苏省，2026年4月24日登陆上海证券交易所。

联讯仪器主营业务覆盖电子测量仪器和半导体测试设备的研发、制造、销售及服务，申万行业分类为机械设备-通用设备-仪器仪表，同时布局光通信、CPO概念赛道，属于专精特新企业。

2025年联讯仪器实现营业收入11.94亿元，在62家同行业企业中排名第13，高于9.68亿元的行业平均水平及5.45亿元的行业中位数，头部企业川仪股份、咸亨国际同期营收分别为68.05亿元、45.61亿元。营收结构方面，半导体测试设备贡献5.57亿元，占比46.66%；电子测量仪器实现5.46亿元，占比45.71%；测试部件营收7122.42万元，占比5.96%；其余业务板块合计占比不足2%。盈利端，公司2025年归母净利润达1.74亿元，位列行业第8（共62家参评企业），大幅超出6766.57万元的行业均值与6682.27万元的行业中位数，同期行业净利润头部企业川仪股份、柯力传感分别录得6.52亿元、3.91亿元。

指标类别具体项目数值行业排位/占比行业对标数据营收表现2025年营业收入11.94亿元13/62头部企业68.05亿元、45.61亿元，均值9.68亿元，中位数5.45亿元营收结构半导体测试设备营收5.57亿元46.66%营收结构电子测量仪器营收5.46亿元45.71%营收结构测试部件营收7122.42万元5.96%营收结构其他业务营收1230.29万元1.03%营收结构其余板块营收760.76万元0.64%盈利表现2025年净利润1.74亿元8/62头部企业6.52亿元、3.91亿元，均值6766.57万元，中位数6682.27万元

苏州联讯仪器股份有限公司近期专利情况如下：

序号专利名称专利类型法律状态申请号申请日期公开(公告)号公开(公告)日期发明人1一种时序对齐方法、装置、介质及设备发明专利授权CN202610438320.82026-04-03CN121967941B2026-07-07彭兴贵、梁可、邵毅男、孙剑辉、祁言2时序对齐方法、装置、介质及设备发明专利授权CN202610438312.32026-04-03CN121967940B2026-07-07梁可、彭兴贵、邵毅男、赵品彰、冯亮3一种菜单侧边栏的目标控件控制方法及装置发明专利实质审查的生效、公布CN202610418457.72026-04-01CN121957442A2026-05-01胡靖民、邵毅男、廉哲、赵品彰、孙剑辉4一种延时补偿方法、装置、电子设备及存储介质发明专利公布CN202610414831.62026-03-31CN122339474A2026-07-03邱建硕、生兆东、陈晓东5一种器件测试方法、设备、装置及存储介质发明专利公布CN202610393786.02026-03-27CN122345771A2026-07-07徐立、潘朝松、张驾祥、曹勋、李甲福6一种导热介质的状态检测方法及装置发明专利实质审查的生效、公布CN202610360913.72026-03-24CN122150319A2026-06-05王雪松、邓仁辉、邵毅男7一种基于微弱信号处理的阻抗测量装置及方法发明专利授权CN202610345877.72026-03-20CN121878282B2026-07-07邱亮、胡海洋、朱亦鸣、廉哲、潘朝松8一种阻抗测量装置及方法发明专利授权CN202610345874.32026-03-20CN121878281B2026-07-07邱亮、胡海洋、朱亦鸣、廉哲、潘朝松9一种基于微弱电流测量的阻抗测量装置及方法发明专利授权CN202610345880.92026-03-20CN121878283B2026-07-07邱亮、胡海洋、朱亦鸣、廉哲、潘朝松10一种信号均衡方法、装置及电子设备发明专利授权CN202610281681.62026-03-10CN121814517B2026-05-08汤鑫、焦健、生兆东、赵品彰、孙剑辉11一种高速线缆误码测试机发明专利实质审查的生效、公布CN202610282297.82026-03-10CN122026953A2026-05-12邓仁辉、刘严、邵毅男、廉哲12应用于误码仪的自适应均衡方法、装置、介质及设备发明专利实质审查的生效、公布CN202610268192.72026-03-06CN121792445A2026-04-03董成龙、胡靖民、赵品彰、孙剑辉13一种阻抗测量系统及阻抗测量方法发明专利实质审查的生效、公布CN202610272361.42026-03-06CN121933812A2026-04-28廉哲、潘朝松、曹勋、贺江云14一种超景深图像融合方法、装置、设备和可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202610258831.12026-03-04CN122175801A2026-06-09周月明、孙志青15一种芯片测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202610196778.72026-02-11CN121721469A2026-03-24李大伦、金鹏16一种源测量电路以及电压输出方法发明专利实质审查的生效、公布CN202610188262.82026-02-10CN121955486A2026-05-01夏少俊17校准模型建立方法、装置、设备、介质及仪表校准方法发明专利授权CN202610192131.72026-02-10CN121683297B2026-05-15王古龙、杜佳伟18光模块误码测试装置外观专利授权CN202530758900.12025-12-23CN310079294S2026-07-10邓仁辉、邵毅男、廉哲19一种芯片测试系统的控制方法及芯片测试系统发明专利实质审查的生效、公布CN202511652101.12025-11-12CN121454284A2026-02-03赵山、赵子闯、王飞、谢智寅20一种用于COC芯片的上下料机发明专利实质审查的生效、公布CN202511636008.12025-11-10CN121448818A2026-02-03徐兴超21一种COC芯片的测试系统及测试方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511636002.42025-11-10CN121470122A2026-02-06徐兴超22一种COC芯片的测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511636004.32025-11-10CN121493589A2026-02-10徐兴超23一种用于芯片的测试夹具及老化设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511619038.12025-11-06CN121142115A2025-12-16张爱林、郭孝明、徐鹏嵩24一种示波器上位机的信息显示方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511619052.12025-11-06CN122195546A2026-06-12吴皓杰、生兆东、袁保阳25应用于数字带宽交织采样的触发方法、触发器、介质及设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511611352.52025-11-05CN122204236A2026-06-12尚军伟、周林达、生兆东、廉哲26一种芯片定位方法、系统及芯片位置矫正装置发明专利实质审查的生效、公布CN202511584534.82025-10-31CN121120782A2025-12-12赵山、施志虎、孙成扬、戈明康27一种芯片测试设备发明专利公布CN202511584539.02025-10-31CN121142281A2025-12-16赵山、孙成扬、施志虎28一种芯片AOI检测设备和芯片测试设备发明专利公布CN202511584533.32025-10-31CN121207970A2025-12-26任鸿昌、施志虎、孙成扬29一种芯片搬运装置及芯片测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511581612.92025-10-31CN121247341A2026-01-02施志虎、文根发、孙成扬、赵山30一种芯片吸附设备、芯片测试系统及控制方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511584537.12025-10-31CN121419599A2026-01-27赵山、孙成扬、施志虎31一种半导体测试设备、光电对位方法以及测试方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511562197.22025-10-29CN121454266A2026-02-03施志虎、赵山、孙成扬32一种自适应调节的不平衡供电电路、方法及精密源表发明专利实质审查的生效、公布CN202511425995.02025-09-30CN121097615A2025-12-09王玉杰、孙旭33一种数据处理方法、装置及电子设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511419500.32025-09-30CN122195788A2026-06-12匡恒、生兆东、廉哲34一种器件测试方法、装置、电子设备及存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202511306559.12025-09-12CN121143881A2025-12-16李甲福、潘朝松、林甲威、徐立35一种光模块误码率测试设备发明专利授权、实质审查的生效CN202511259617.X2025-09-04CN120811479B2025-11-18邓仁辉、邵毅男、廉哲36一种tray盘上下料装置及其控制方法和芯片测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511227197.72025-08-29CN120736214A2025-10-03孙成扬、任鸿昌37一种晶圆上下料机、芯片测试设备及其控制方法发明专利授权、公布CN202511227566.22025-08-29CN120717207B2025-10-31孙成扬38tray盘上下料机、芯片测试设备及控制方法发明专利授权、公布CN202511227514.52025-08-29CN120717206B2025-10-31孙成扬、施志虎39一种芯片测试机及芯片测试设备发明专利公布CN202511227676.92025-08-29CN120971936A2025-11-18孙成扬40芯片传输机构及其控制方法和芯片测试设备发明专利公布CN202511227646.82025-08-29CN121020133A2025-11-28孙成扬41一种芯片测试设备及测试方法发明专利公布CN202511229965.22025-08-29CN121027144A2025-11-28孙成扬42一种芯片测试系统及其控制方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511227613.32025-08-29CN121171948A2025-12-19孙成扬43一种嵌入式设备的检测方法、装置及设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511162042.X2025-08-19CN121166416A2025-12-19王玲、杜佳伟44一种硅光晶圆测试方法及一种硅光晶圆测试装置发明专利实质审查的生效、公布CN202511098038.12025-08-06CN120629900A2025-09-12陆姜鹏、谢智寅、施志虎、强飞飞45一种芯片探针卡平面度调节机构及芯片测试设备发明专利公布CN202511095277.12025-08-06CN120685942A2025-09-23孙成扬、施志虎46一种旋转中心标定方法、位姿调整机构及晶圆测试装置发明专利授权CN202511098047.02025-08-06CN120593625B2025-11-18张恒、周立东、施志虎、陈伟伟47一种巴伦结构以及通信设备发明专利实质审查的生效、公布CN202510922116.92025-07-04CN122202813A2026-06-12丁健、陈晓东、廉哲、袁保阳48一种信号处理装置及示波器发明专利实质审查的生效、公布CN202510923671.32025-07-04CN122193661A2026-06-12丁健、陈晓东、廉哲、袁保阳49基于FPGA确定目标波形的装置及方法发明专利实质审查的生效、公布CN202510917810.12025-07-03CN122193660A2026-06-12吴中杰、邱建硕、陈晓东、廉哲50多块FPGA的延时校准方法以及延时校准装置发明专利实质审查的生效、公布CN202510917811.62025-07-03CN122195209A2026-06-12吴中杰、邱建硕、陈晓东、廉哲