北京
国家知识产权局信息显示，江西兆驰半导体有限公司申请一项名为“基于深度学习优化LED外延层晶体质量的方法及设备”的专利，公开号CN122314158A，申请日期为2026年3月。
专利摘要显示，本发明公开了一种基于深度学习优化LED外延层晶体质量的方法及设备，涉及半导体技术领域，所述方法包括：获取历史生长参数及历史晶体质量表征数据，所述历史生长参数与历史晶体质量表征数据一一对应；对所述历史生长参数及历史晶体质量表征数据进行预处理；以预处理后的所述历史生长参数为输入特征，以预处理后的所述晶体质量表征数据为输出标签，构建监督学习数据集；构建深度学习模型，并通过所述监督学习数据集对所述深度学习模型进行训练以生成正向模型；对所述正向模型的进行优化处理以获取最优生长参数；将所述最优生长参数应用于MOCVD设备进行外延生长实验。采用本发明，可实现对LED外延层晶体质量的精准、高效、智能化优化。
天眼查资料显示，江西兆驰半导体有限公司，成立于2017年，位于南昌市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本160000万人民币。通过天眼查大数据分析，江西兆驰半导体有限公司共对外投资了3家企业，参与招投标项目20次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息1686条，此外企业还拥有行政许可62个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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