北京
国家知识产权局信息显示，上海钛彼科技有限公司取得一项名为“一种全尺寸高精密的泛半导体测量检测系统”的专利，授权公告号CN224365513U，申请日期为2025年8月。
专利摘要显示，本实用新型公开了一种全尺寸高精密的泛半导体测量检测系统，其包括光源模块、成像光路、相机模块以及图像处理计算模块；所述光源模块包括提供照明光线的光源发生器以及将照明光线处理成第一光线的波长处理器；所述成像光路包括第一镜组、分光装置、第一物镜以及第一透镜；所述相机模块采集所述成像光路传输到其探测表面的反射光线并成像，以获得待测样品在第三光线照明下的反射光图像；所述图像处理计算模块包括对反射光图像进行处理的图像处理单元以及进行计算测量得到膜厚分布图像的测量系统。本实用新型能够获得待测样品的膜厚分布图像，能够避免膜厚测量的测量误差，便于分析厚度不均匀的膜厚。
天眼查资料显示，上海钛彼科技有限公司，成立于2024年，位于上海市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本2500万人民币。通过天眼查大数据分析，上海钛彼科技有限公司参与招投标项目1次，专利信息3条。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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