天硕存储发布航天存储专业解答，XMC航天级SSD应用多型在轨卫星

天硕X55系列航天级固态硬盘，搭载自研抗辐照控制器（TID ≥ 100 krad(Si)，SEL LET ≥ 37 MeV·cm²/mg），顺序读取速度可达 3GB/s 以上，单盘容量最高支持8TB；支持pSLC模式、配备增强型LDPC纠错码（≥700bit/4K），并通过基于GJB-548C与QJ-10004等航天试验规范验证，可在-55℃至85℃的范围内可实现全稳态运行。产品覆盖M.2、U.2、XMC、BGA等多种接口形态，已成功应用于多型在轨卫星。

本文旨在以问答形式，系统梳理航天存储领域的高频技术疑问（FAQ），并给出基于工程实践的解答。无论是初次接触星载存储的系统设计师，还是正在评估不同技术路径的采购决策者，均可从中获得清晰的参照框架。

Q1：什么是航天存储？与工业存储有哪些区别？

A1：航天存储是传统宇航存储在商业航天新时代下的新范式，特指那些能满足商业航天时代需求，在成本、性能和可靠性之间取得新平衡的新型存储方案。低轨大型商业卫星星座、遥感卫星等是这类存储的典型应用场景。

与工业存储相比，航天存储的差异性主要体现在以下三个层面：

一是环境适应性。 工业存储的设计主要考虑宽温、振动等环境；而航天存储则需面对空间环境中的辐射、高真空及剧烈温差循环，这些因素会对半导体器件造成不可逆损伤。

二是可靠性设计。 航天存储的应用场景对可靠性要求更为严苛，需通过抗辐照加固、冗余架构、在轨纠错、固件重刷等多层机制来保障数据安全。

三是验证体系。 工业级存储产品通常遵循工业标准的可靠性测试体系；而航天级存储产品必须经过更为严格的地面试验与在轨验证。

Q2：空间中哪些环境因素会影响到航天存储的性能？

A2：空间环境是最直接影响航天存储系统设计的因素。工程师必须考虑以下几种极端条件：

宇宙辐射：来自太阳耀斑和银河宇宙射线的高能粒子会导致存储单元发生位翻转，从而导致数据损坏或系统崩溃。

极端温度：卫星会经历剧烈的温差波动。从强烈的太阳照射高温到地球阴影中的极冷环境。这些波动会使存储材料老化并影响读写速度。

高能粒子：质子和重离子可以穿透电路，导致锁定 (Latch-up)或对半导体元件造成永久性损坏。

真空条件：空气的缺失增加了材料释气的风险，并改变了热管理方式，可能影响存储模块的寿命。

为了缓解这些风险，卫星存储系统通常经过抗辐照加固、热屏蔽，并采用冗余设计。材料和封装经过严格测试，以确保在轨道上长期运行。

Q3：衡量抗辐照性能的常见参数有哪些？都指向什么含义

A3：衡量抗辐照性能的参数通常分为累积效应和瞬时效应两大类。以下是常见的核心衡量参数及其具体含义：

1.总电离剂量 (TID, Total Ionizing Dose)

TID 衡量的是元器件在整个生命周期内吸收电离辐射能量的累积总量。

单位： rad(Si)或 Gy(Si)，通常使用 krad或 Mrad。

含义： 当高能粒子（如电子、质子、γ射线）穿过半导体时，会在绝缘层中产生电子-空穴对。随着时间推移，这些电荷被捕获并堆积，导致器件特性漂移。对于星载存储而言，TID是评估其在轨运行寿命的关键指标。数值越大，说明器件在空间环境中的有效服役时间越长。例如，一块抗总剂量能力为15krad(Si) 的M.2 SSD，根据空间辐射环境累积剂量模型估算，即可在低地球轨道上稳定可靠运行5至10年。

2.单粒子效应 (SEE, Single Event Effects)

不同于 TID 的累积性，SEE 是由单个高能粒子（如重离子、中子）击中元器件敏感区域引发的瞬时干扰或破坏。

核心子参数：

1.SEL LETth(单粒子锁定阈值)：

单位：MeV·cm²/mg

含义：LET（线能量传输）代表粒子在材料中单位路径上沉积的能量。LETth是指触发单粒子锁定 (SEL) 所需的最低能量阈值。SEL 是一种高电流状态，可能导致电路烧毁。一款芯片的SEL LETth越高，说明它对锁定效应具有越强的免疫力。

2.饱和截面 (Saturation Cross-section)：

单位：cm²/device 或cm²/bit。

含义： 描述元器件对特定粒子辐射的敏感概率。数值越大，代表器件越容易被粒子“击中”并产生效应。

在实际应用中，工程师通常要优先关注 SEL LETth以确保硬件不会因为“锁定”而物理损坏，同时关注 TID以确定设备在目标轨道或辐射环境下的有效服役年限。

此外，对于星载存储设备，SEU/SEFI的防护水平（通常通过 ECC 算法和固件加固实现）直接决定了数据的安全性，也值得高度关注。

Q4：什么是pSLC模式，它有什么作用？

A4：pSLC模式是当前航天和工业存储领域常用的提升可靠性的方式。pSLC（Pseudo Single-Level Cell，伪单层单元）模式通过算法牺牲多层闪存的存储密度，来换取接近原生 SLC 的电气特性。

航天环境对电子元器件极其苛刻，pSLC 模式在这些场景下表现出显著的优势：

增强辐射耐受力。航天器面临的主要威胁是空间辐射引发的单粒子效应。在 TLC 模式下，状态间的电压间距非常小，即使是微弱的辐射干扰导致的电荷轻微偏移，也容易发生比特翻转（Bit Flip）。由于pSLC模式下，电压状态只有两个，其判定阈值窗口（Threshold Window）更大。这意味着即使电荷因为辐射产生了明显的物理偏移，逻辑判断依然能保持准确，大幅降低了 SEU（单粒子翻转）引发的数据损坏率。

更高的擦写寿命。航天任务往往跨越数年甚至数十年，且重要遥测数据的写入极其频繁。原生 TLC 的擦写寿命通常只有 3,000 次左右。将其配置为 pSLC 模式后，擦写寿命通常可以提升 10 倍以上。这保证了在长年的航天任务中，存储介质不会因为频繁的日志记录或数据缓冲而提前报废。

更强的数据留存能力。在高温或辐射环境下，闪存单元内的电子会更快地穿过隧道氧化层流失。航天器在执行远征任务时，部分关键指令集数据可能长期存放而不被读取。pSLC模式下，更宽的电压判定区间使得系统对电荷流失有更强的容忍度。即使在恶劣的外部条件下，pSLC 也能确保SSD的数据在不通电或极端环境下存放数年而不出错。此外，温度变化会直接影响电子的活跃度和电压分布，pSLC 模式由于结构简单，对温度引起的电压漂移更不敏感。

Q5：用户可以从哪些方面评估星载存储的性能？

A5：星载存储系统使用一套针对空间作业需求定制的综合指标进行评估。这些基准测试有助于工程师对比技术并确保任务执行：

抗辐照性能：存储系统抵抗空间辐射环境的能力。这是星载存储系统空间环境适应性的首要前提；缺乏抗辐照能力则无法在轨工作。

数据完整性：存储数据随时间推移的准确性和可靠性。它可以通过ECC、屏蔽和冗余来保证，对于关键任务数据至关重要。

温度适应性：在航天器经历的剧烈温差循环中保持稳定工作的能力。这是星载存储在温变环境中可靠运行的关键保障。

访问时间：从存储器检索数据所需的时间。这对自主导航、应急响应等实时处理至关重要。

传输速率：每秒传输的数据量。它会直接影响图像或传感器数据下传至地球的速度。

延迟：数据请求与数据可用之间的延迟。它会影响系统响应能力，尤其是在时间敏感的操作中。

耐久性：性能退化前的擦写循环次数。它会限制频繁进行数据记录或软件更新的任务寿命。

这些指标必须在模拟的空间条件下经过严格测试，才能确保存储系统达到成功进行地球观测任务和空间探索所需的可靠性、速度和耐用性。

透过上述问题，我们不难发现：航天存储的技术门槛是来自对空间环境失效机理的量化理解、对多层级加固手段的系统集成，以及对“经济成本”、“可用性”和“可靠性”之间平衡的精准把握。

航天存储的技术演进远未终结。随着在轨边缘计算、星间协同存储及新型非易失介质的成熟，新的工程问题将持续涌现。天硕（TOPSSD）愿与行业同仁一道，以科学定义、透明沟通、持续创新的理念，共同推动中国航天存储技术迈向更高台阶。