北京
国家知识产权局信息显示，大川半导体设备（海安）有限公司申请一项名为“一种半导体器件的测试验证平台”的专利，公开号CN121783268A，申请日期为2026年1月。
专利摘要显示，本发明属于传感器检测技术领域，尤其是涉及一种半导体器件的测试验证平台，包括底座和PLC控制器，还包括旋转承托组件、图像检测组件、翻转组件、电性能测试组件和除静电清吹组件；所述旋转承托组件固定在底座上，用于放置多个半导体器件，并将半导体器件移送至图像检测组件、翻转组件、电性能测试组件和除静电清吹组件处进行检测。本发明通过集成连续移送‑快速翻面‑双面图像检测、翻面同步额定电压漏电流检测及动态风速湍流深层清灰除静电功能，实现半导体器件检测流程的一体化高效运作，既消除静电粉尘导致的检测误差与器件损伤风险、获取全结构缺陷数据以支撑失效分析，又省去额外检测工序、降低检测成本，大幅提升检测效率与精准度。
天眼查资料显示，大川半导体设备（海安）有限公司，成立于2024年，位于南通市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析，大川半导体设备（海安）有限公司专利信息3条，此外企业还拥有行政许可1个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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