北京
国家知识产权局信息显示，上海光通信有限公司申请一项名为“膜层厚度量测方法及其装置、计算机设备和存储介质”的专利，公开号CN121752035A，申请日期为2024年9月。
专利摘要显示，本公开涉及一种膜层厚度量测方法及其装置、计算机设备和存储介质。该膜层厚度量测方法，包括：获取栅氧层的厚度变化曲线，所述厚度变化曲线用于表征栅氧层随等待时间变化的厚度变化；依序沉积栅氧层和待测栅极层；获取栅氧层和待测栅极层的总厚度；基于所述总厚度和所述厚度变化曲线，确定所述总厚度与栅氧层的厚度之间的差值为待测栅极层的厚度。本公开用于提高栅极层厚度量测的精度和准确度。
天眼查资料显示，上海光通信有限公司，成立于1988年，位于上海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本2038786.497万人民币。通过天眼查大数据分析，上海光通信有限公司共对外投资了8家企业，参与招投标项目52次，财产线索方面有商标信息12条，专利信息77条，此外企业还拥有行政许可182个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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