北京
国家知识产权局信息显示，四川长虹虹微科技有限公司申请一项名为“提升Demura算法校正效果的方法”的专利，公开号CN121603621A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本发明公开了一种提升Demura算法校正效果的方法，包括离线部分和在线部分，其中：离线部分使用深度学习方式，训练一个轻量的消除摩尔纹的网络；在线部分将训练的网络用于Demura过程的图像采集阶段，用于消除相机导致的摩尔纹现象，并对初次生成的Demura参数使用区域滤波的方法实现mura校正的渐进过渡；本发明在Demura校正过程中，采用深度学习去除摩尔纹和使用区域滤波的方式，简化校正流程，提升校正时间和校正效果。
天眼查资料显示，四川长虹虹微科技有限公司，成立于2005年，位于成都市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本2000万人民币。通过天眼查大数据分析，四川长虹虹微科技有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目35次，财产线索方面有商标信息31条，专利信息466条，此外企业还拥有行政许可6个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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