国家知识产权局信息显示,天芯互联科技有限公司取得一项名为“一种芯片老化测试装置”的专利,授权公告号CN223941054U,申请日期为2025年2月。
专利摘要显示,本实用新型属于芯片测试技术领域,尤其涉及一种芯片老化测试装置。一种芯片老化测试装置包括老化板和多个温控单元,老化板上设置有多个连接件,温控单元包括风量控制装置、加热装置和温度检测装置,加热装置包括加热室和加热器件,加热器件和温度检测装置设置于加热室内;加热室上设置有进风口和出风口,风量控制装置用于调节进风口的开度;每一连接件能够电连接一个温控单元的加热室内的待测芯片,以使老化板测试待测芯片在目标温度下的运行参数。在冷风流入各个温控单元的加热室内时,通过相应风量控制装置调节进风口的开度,以控制通入相应加热室内的风量大小,从而根据每一待测芯片的运行温度来进行降温,以实现对单个芯片的精准温控调节。
天眼查资料显示,天芯互联科技有限公司,成立于2012年,位于深圳市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本5543.163万人民币。通过天眼查大数据分析,天芯互联科技有限公司参与招投标项目735次,财产线索方面有商标信息17条,专利信息279条,此外企业还拥有行政许可15个。
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本文源自:市场资讯
作者:情报员
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