北京
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国家知识产权局信息显示，西门子公司申请一项名为“用于视觉质量检验的基于模拟的合成缺陷生成”的专利，公开号CN121488282A，申请日期为2023年7月。
专利摘要显示，在一种用于支持生产线上的制造零件的基于视觉的检验的计算机实现的方法中，利用具有缺陷的制造零件样本的真实图像，通过对从真实图像中获得的不同缺陷类型的封闭缺陷几何形状进行数字化和参数化，在模拟中创建缺陷库。通过对定义缺陷库中的缺陷类型的封闭缺陷几何形状的参数进行随机化来生成合成缺陷。在目标零件的CAD模型上的随机化位置处执行合成缺陷的3D叠加，以生成多个缺陷模型对象，每个缺陷模型对象包括包含合成缺陷中的一个或多个合成缺陷的目标零件的数字表示。然后使用生成的缺陷模型对象和具有一个或多个相机的检验环境的数字孪生来渲染模拟相机图像，以创建用于训练机器学习模型的数据集。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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