北京
国家知识产权局信息显示，上海复享光学股份有限公司申请一项名为“光场等频率图及频率空间扫描测量系统及测量方法”的专利，公开号CN121476185A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本发明涉及等频率图测量技术领域，特指一种光场等频率图及频率空间扫描测量系统及测量方法，该系统包括光源，第一聚焦透镜以及分束镜，沿Y轴方向设置；与分束镜相对设置的准直透镜，设于经过分束镜中心并与Y轴方向垂直的Z轴方向上；与分束镜相对设置的第二聚焦透镜，沿Z轴方向设于分束镜远离准直透镜的一侧；与第二聚焦透镜相对设置的相机，沿Z轴方向设于第二聚焦透镜远离分束镜的一侧；可旋转的滤光片，置于第一聚焦透镜和准直透镜之间。本发明利用准直透镜将经过的光束转变为沿着各个方向的平行光束，以让转动调节的滤光片对平行光束起作用，保证成像的每条光线都受到相同程度的调节，从而获得均匀一致的频率选择和调节效果。
天眼查资料显示，上海复享光学股份有限公司，成立于2011年，位于上海市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本1490.5345万人民币。通过天眼查大数据分析，上海复享光学股份有限公司共对外投资了3家企业，参与招投标项目275次，财产线索方面有商标信息44条，专利信息73条，此外企业还拥有行政许可8个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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