北京
国家知识产权局信息显示，华虹集成电路（成都）有限公司申请一项名为“改善WAT测试小漏电跳高的方法”的专利，公开号CN121476884A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本申请提供一种改善WAT测试小漏电跳高的方法，包括：步骤一，对晶圆卡盘实施放电操作；步骤二，晶圆固定于晶圆卡盘后，对探针卡实施放电操作；步骤三，探针卡接触晶圆后开始WAT测试，测试过程中对测试信道和晶圆卡盘实施放电操作；步骤四，WAT测试结束后，探针卡与晶圆分离，对晶圆卡盘实施放电操作；步骤五，晶圆脱离晶圆卡盘。通过改变WAT测试过程中采用的放电单元，改善了后段金属层漏电不稳定的问题。
天眼查资料显示，华虹集成电路（成都）有限公司，成立于2023年，位于成都市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本2280000万人民币。通过天眼查大数据分析，华虹集成电路（成都）有限公司参与招投标项目133次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息35条，此外企业还拥有行政许可119个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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