国家知识产权局信息显示,合肥晶合集成电路股份有限公司申请一项名为“一种半导体器件中西格玛沟槽的制作方法”的专利,公开号CN121463515A,申请日期为2026年1月。
专利摘要显示,本发明属于半导体技术领域,公开一种半导体器件中西格玛沟槽的制作方法,包括:提供一衬底,衬底包括第一器件区和第二器件区;第一器件区的第一有源区上形成有PMOS区栅极和PMOS栅极掩膜层;使PMOS栅极掩膜层的顶部暴露在第一器件区形光刻胶层外部;在第二器件区顶部以及PMOS栅极掩膜层顶部沉积一层沉积氧化硅层;去除第一器件区的光刻胶层;刻蚀去除第一有源区表面自然氧化硅层,进而蚀刻第一有源区的硅,在第一器件区的半导体衬底中形成U型沟槽;对U型沟槽采用TMAH蚀刻形成西格玛沟槽。本发明在进行源漏嵌入锗硅的过程中,避免了PMOS和NMOS的高度差产生,不会影响对后续制程产生影响。
天眼查资料显示,合肥晶合集成电路股份有限公司,成立于2015年,位于合肥市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本200759.1697万人民币。通过天眼查大数据分析,合肥晶合集成电路股份有限公司共对外投资了10家企业,参与招投标项目636次,财产线索方面有商标信息41条,专利信息1613条,此外企业还拥有行政许可22个。
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本文源自:市场资讯
作者:情报员
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