捷创电子：PCBA维修性，如何在设计中预留测试与返修点？

优秀的PCBA设计不仅要实现功能，还必须为生产测试和生命周期内的维修预留便捷入口。预先规划测试与返修点，能极大降低后期调试、故障定位和元件更换的难度与成本，是体现设计成熟度的重要标志。这项工作需要在电路设计和物理布局阶段就系统性地展开。

为测试性设计：提供可访问、无歧义的电气探测点。
测试点的核心目的是在不破坏产品的前提下，为在线测试或飞针测试提供可靠的电气接触。

1. 关键网络全覆盖：对所有电源、地、复位、时钟、关键控制信号及高速差分信号网络，必须引出专用的测试焊盘。不能依赖通过元件焊盘进行测试，因为贴片后焊盘被遮挡。
2. 测试点的规范设计：测试焊盘直径建议不小于0.8mm，形状以圆形或方形为宜。焊盘周围需有足够的禁布区（通常0.5mm以上），避免其他走线或元件影响测试探针的接触。对于高密度板，可采用菊花链方式将多个网络的测试点引至板边区域集中布置。
3. ICT与功能测试的兼容性：若使用针床夹具，需在PCB上预留定位孔和夹具支撑柱避让区。测试点布局需符合夹具制造商对最小间距的要求。对于功能测试，应预留标准的板对板连接器或测试插针排，定义清晰的测试接口协议。

为返修性设计：创造安全、可行的物理操作空间。
返修性设计关注的是如何在狭小空间内，安全地拆装损坏的元件。

1. 元件间距与热屏蔽：遵循返修间距规则。例如，BGA芯片周围应预留足够空间（通常大于5mm）以放置返修工作站的热风喷嘴或红外加热头。对于热敏感周边元件，在布局时就要考虑在其与大型需返修元件之间设置“缓冲区”，或在PCB背面设计散热焊盘导热过孔，以在返修时分散热量。
2. 提供辅助对位标记与物理标识：在密脚IC（如QFP、BGA）的附近丝印上元件位号、方向标识和第1脚标记。对于BGA，可在其对角或侧面添加高对比度的光学基准点，供返修设备视觉对位使用，这对于无铅、无标记的芯片至关重要。
3. 焊盘与走线的耐热加固设计：考虑到返修时局部高温和可能的多次焊接，对于常需返修的连接器或芯片焊盘，其连接走线可适当加宽，并避免使用焊盘上直接打孔的设计，以增强焊盘的附着力，防止铜皮剥离。

系统化文档与知识传递：
设计意图必须通过文档清晰传递。应在装配图中明确标注所有测试点的网络名称或编号。建立并维护一份“关键/高风险元件返修指导书”，作为设计输出的一部分，其中包含该元件推荐的返修温度曲线、所需专用工具和注意事项。通过在设计初期就将测试与返修的需求作为约束条件纳入，可以显著提升产品全生命周期的可维护性，降低售后支持成本，从而实现从“可制造性设计”到“可服务性设计”的完整跨越。