北京
国家知识产权局信息显示，深圳市泰芯微科技有限公司申请一项名为“一种低功耗遥控器芯片的检测方法及系统”的专利，公开号CN121432133A，申请日期为2025年10月。
专利摘要显示，本发明涉及芯片老化测试技术领域，公开了一种低功耗遥控器芯片的检测方法及系统。所述方法包括，获取芯片电感充放电过程的动态功耗序列和环境影响数据，融合得到原始数据序列并提取时序功耗峰值、确定时序对应关系；对原始数据序列进行傅里叶变换提取频域特征，计算偏差，若频域特征异常且连续偏差则标记为异常振荡点；获取振荡点对应充放电时序数据，建立初步矩阵，结合环境数据调整边界得到精炼评估指标；聚类分组确定退化趋势与融合矩阵，若连续异常簇且退化进行偏差与连续退化判断；综合判断结果确定最终分类结果。本方法能够实现芯片动态工况精准检测与健康评估。
天眼查资料显示，深圳市泰芯微科技有限公司，成立于2011年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本100万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市泰芯微科技有限公司专利信息7条，此外企业还拥有行政许可2个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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