北京
国家知识产权局信息显示，武汉恩达通科技有限公司申请一项名为“一种光模块中光组件的耦合测试系统与方法”的专利，公开号CN121431007A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本发明提供了一种光模块中光组件的耦合测试系统与方法，该系统包括光源模块、载物模块、上料模块、位置监控模块、光束参数监控模块及控制模块；光源模块经光源连接器连光口尾纤并输出测试光；载物模块含载物调节机构与载物平台，载物平台固定耦合元件，载物调节机构调节耦合元件的姿态；上料模块拾取光口尾纤并调节光口尾纤的位置和姿态；位置监控模块监控光口尾纤实时位置；光束参数监控模块监控光组件输出光束的光束参数；控制模块控制上料模块移动光口尾纤至耦合位置，并根据光束参数判耦合是否到位，是则将光口尾纤与耦合元件进行固定，否则重新进行耦合。本发明有效地提升了耦合精度和效率。
天眼查资料显示，武汉恩达通科技有限公司，成立于2017年，位于武汉市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1215.6156万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉恩达通科技有限公司参与招投标项目8次，财产线索方面有商标信息9条，专利信息123条，此外企业还拥有行政许可16个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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